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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestNetzwerkanalysatoren mit erstklassigem Dynamikbereich und Temperaturstabilität11. Juni 2019 – Die neuen Netzwerkanalysatoren der Serien E5080B, P50xxA und M980xA von Keysight Technologies sind in den Formfaktoren Benchtop, USB und PXI erhältlich. Durch die Kombination von hoher Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit mit erstklassigem Dynamikbereich, Spurrauschen und Temperaturstabilität sowie einer Vielzahl von Softwareanwendungen ermöglichen die neuen Analysatoren Ingenieuren eine umfassende Bauteilcharakterisierung. Software verbindet EDA-Umgebung direkt mit Halbleitertester31. Mai 2019 – Advantest Corporation hat die Funktionalität seiner V93000 SmarTest-Software um SmartShell erweitert. Bei SmartShell handelt es sich um eine neue Softwarelösung, die eine direkte Kommunikation zwischen einem skalierbaren V93000 Tester und EDA-Umgebungen (Electronic Design Automation) wie der Tessent Silicon Insight Software von Mentor, einem Siemens-Unternehmen, ermöglicht. Multi-Site-Testlösung für Millimeterwellen-Bauteile bis 70 GHz20. Mai 2019 - Advantest hat eine Erweiterung für sein V93000-System vorgestellt, die einen Test von 5G-NR-Hochfrequenzbauteilen und -Modulen der nächsten Generation ermöglicht. Die neue V93000 Wave Scale Millimeter-Lösung erlaubt hohe Multi-Site-Parallelität und bietet eine hohe Einsatzflexibilität, die für Multi-Band-Millimeterwellen (mmWave) Frequenzen erforderlich ist. Der Betriebsbereich reicht von 24 GHz bis 44 GHz bzw. von 57 GHz bis 70 GHz. Dynamischer Leistungsanalysator für Wide-Bandgap-Halbleiterbauelemente10. Mai 2019 – Der neue dynamische Leistungsanalysator mit Doppelpulstester PD1500A von Keysight Technologies ermöglicht zuverlässige und wiederholbare Messungen von Wide-Bandgab- Halbleitern (WBG) wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN). Gleichzeitig wird auch die Sicherheit der Messhardware und der Fachleute, die die Tests durchführen, gewährleistet. Test von hochauflösenden Audio-ICs09. Mai 2019 – Advantest Corporation stellt das hochauflösende GPWGD-Modul mit dem leistungsstarken Analog-Digitizer vor. Das Modul unterstützt die Prüfung von hochauflösenden Audio-Digital-Analog-Wandlern (DACs), die in Power-Management-ICs (PMICs) sowie in hochauflösenden Audiogeräten zu finden sind. Röntgenprüfsysteme für die Halbleiterindustrie21. März 2019 - YXLON International präsentiert eine brandneue Reihe von Röntgenprüfsystemen für die Halbleiterindustrie. Diese Systeme ermöglichen auf höchstem Niveau die intelligente 2D- und 3D-Prüfung von Bumps und gefüllten VIAs zur Lokalisierung, Identifizierung und Messung von Fehlern einschließlich nicht benetzter Bumps, Hohlräume und Fehlausrichtungen. Hinsichtlich der Auflösung gehören diese Systeme zu den besten des weltweiten Markts. Schneller Produktionstest von UV-LEDs09. Januar 2019 - Instrument Systems hat ein Messsystem bestehend aus einer Ulbricht-Kugel mit PTFE-Beschichtung und einem hochpräzisen Spektralradiometer für die schnelle 24/7-Qualitätskontrolle von UV-LEDs vorgestellt. Das kombinierte Messsystem ermöglicht präzise und gleichzeitig schnelle Messungen der UV-Strahlungsleistungen sowie weiterer spektraler Größen. Weitere Beiträge ...
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