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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestOptische Waferprüfung für uLEDs15. Juli 2020 – Instrument Systems bietet für μLED-Wafertesting eine einzigartige kamerabasierte Messlösung an, die 2-dimensional, pixelgenau und innerhalb vorgegebener Taktzeiten optische Analysen erstellt. Die LumiTop 4000 besitzt eine 12 MP Auflösung und detektiert kleinste Defekte und Inhomogenitäten auf dem Wafer. Dank 100 mm Makro-Objektiv ermöglicht die Kamera eine schnelle parallele Inline-Analyse aller μLEDs auf einem Wafer in einer einzigen Teststation. Test von Wi-Fi 6E und anderen Konnektivitäts-ICs bis zu 8 GHz27. Mai 2020 – Advantest hat die neueste Generation seiner Wave Scale RF-Kanalkarten für die V93000-Plattform vorgestellt. Dadurch wird der wachsenden Marktnachfrage nach Wi-Fi 6E, 5G-NR-Transceivern, LTE-Advanced Pro und IoT-Kommunikationsbauteilen, die bei Frequenzen bis zu 8 GHz arbeiten, Rechnung getragen. Die neue V93000 Wave Scale RF8-Karte, die sowohl hochparallele Multi-Site- als auch In-Site-Paralleltests durchführen kann, reduziert die Testkosten und die Markteinführungszeit für zukunftsweisende Hochfrequenz-Halbleiter (RF). Gleichzeitig ermöglicht die Karte den Test zukünftiger 5G-NR-Bausteine. Vollständige Design- und Testlösung für DDR5-Speicher19. März 2020 – Keysight Technologies stellt die weltweit erste Design- und Test-Workflow-Lösung vor, die die Produktentwicklungszeit für DDR5-DRAM-Systeme (Double-Data-Rate Dynamic Random-Access Memory) reduziert. Eine Hauptkomponente ist der PathWave ADS Memory Designer. VNA erlaubt Single-Sweep-Messungen von 70 kHz bis 220 GHz27. Februar 2020 – Anritsu stellt mit den Breitband-Vektor-Netzwerkanalyzer (VNA) VectorStar ME7838G den branchenweit ersten VNA vor, mit dem sich Messungen von 70 kHz bis 220 GHz in einem Single Sweep durchführen lassen. Der neue Analyzer bietet eine beispiellose Frequenzabdeckung und ermöglicht Entwicklern, Komponenten und Systeme über einen viel breiteren Frequenzbereich präziser und effizienter zu charakterisieren, um genaue Modelle zu erstellen. Test Contactoren für Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in08. November 2019 – Yamaichi Electronics präsentiert auf der productronica die neue Generation der Y-RED Halbleiter Test Contactoren. Diese zeichnen sich durch standardisierte Elemente und eine einfache und benutzerfreundliche Montage aus. Als erstes Produkt der neuen Generation Y-RED wird der Standardsockel für Anwendungen zur Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in verfügbar sein. Das Rastermaß startet bereits bei 0,30mm. Der Anwendungstemperaturbereich ist von -40°C bis 150°C spezifiziert. Die Y-RED Sockel sind für die Packages LGA, QFN und BGA sowie (WL)CSP konzipiert. Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität04. November 2019 – Advantest hat seine T2000 Plattform um zwei neue Module und einen Test Head erweitert, die speziell für die Prüfung von Bauteilen in der Automobilindustrie entwickelt wurden. Das neue Equipment verbessert die Testabdeckung, ermöglicht höhere Parallelität und senkt die Testkosten für System-on-Chip (SoC)-Bauteile in Automobilen. Messung und Evaluierung der Schaltparameter von SiC- und GaN-Leistungsbauteilen15. Oktober 2019 - Tektronix stellt ein neues Software-Plugin für den Arbiträr-/Funktionsgenerator AFG31000 vor, mit dem sich Doppelpuls-Tests in weniger als einer Minute durchführen lassen, sodass gegenüber anderen Methoden viel Zeit eingespart werden kann. Mit der neuen Doppelpuls-Test Software lassen sich die Pulsparameter über den Touchscreen des AFG31000 schnell definieren und dann die für den Leistungstest erforderlichen Signale erzeugen – alles in weniger als einer Minute. Die Anwendung ermöglicht eine Impedanzanpassung über die Pulsbreite und den Zeitabstand zwischen den einzelnen Pulsen bei bis zu 30 Pulsen. Die Pulsbreite ist von 20 ns bis 150 µs einstellbar. Weitere Beiträge ...
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