News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter

30. Januar 2018 – Advantest hat zwei neue Module für sein T2000 IPS System vorgestellt. Diese ermöglichen den Test von Hochspannungs- und Hochleistungs-Bauteilen, die im Antriebsstrang von elektrischen Fahrzeugen (EV/HV) zum Einsatz kommen. Die neuen verbesserten MMXHE- (Multifunction Mixed High Voltage) und MFHPE-Module (Multifunction Floating High Power) erlauben eine massiv parallele Hochleistungsprüfung.

Dies wird zudem durch das innovative multifunktionale Pin-Design von Advantest unterstützt, das eine beispiellose Flexibilität bei der Zuordnung der Testressourcen auf die einzelnen Pins gewährleistet.

"Da die Elektrofahrzeuge stetig weiterentwickelt werden, wird es immer wichtiger, dass Testlösungen auch höhere Spannungen unterstützen. Nur so lässt sich die Zuverlässigkeit der Bauteile im Antriebsstrang sicherstellen", sagt Satoru Nagumo, der Executive Vice President der ADS Business Group von Advantest. "Unsere neuen Module für das T2000 IPS System wurden speziell für die Testanforderungen fortschrittlicher Analogbauteile des schnell wachsenden Automobilelektronik-Marktes entwickelt."

Durch die Bereitstellung von 64 bzw. 36 Ausgangskanälen optimieren die MMXHE- und MFHPE-Module die Testeffizienz und senken die Testkosten. Jeder Pin verfügt über mehrere Messfunktionen, was die Anzahl der Relais auf dem Loadboard reduziert, den Einsatz optimiert und das Loadboard-Design vereinfacht.

Die Module können Spannungen bis 300 V mit einer Genauigkeit im Bereich von 100 µV messen. Dies wird für den Test von ICs benötigt, die im Antriebsstrang, der Steuerung und den Sensoren von EV/HVs eingesetzt werden. Die Modul-Ressourcen lassen sich kaskadieren oder koppeln, so dass die Anwender die Funktionalität und den Durchsatz des Testers auf die erforderliche Leistungsfähigkeit anpassen können. Diese Flexibilität hilft eine langfristige Einsatzfähigkeit des T2000 IPS Testers sicherzustellen.

Die Systemfähigkeiten umfassen hochgenaue Tests von Parameter-Messeinheiten (PMU), Digitalfunktionen für hohe Spannungen, differenzielle Spannungen, Zeitmessungen, Iddq sowie Arbiträr-Signalgenerator- und Digitizer-Funktionen. Beim T2000 IPS kann jeder dieser Tests einem einzelnen Pin zugeordnet werden, was eine schnellere Verarbeitung und einen höheren Durchsatz gewährleistet.

www.advantest.de/

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