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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestIntegrierte End-to-End-Testlösung mit IP- und Protokollstatistik-Analyse für Smartphones22. Februar 2012 - Rohde & Schwarz präsentiert die weltweit erste integrierte End-to-End-Testlösung mit IP- und Protokollstatistik-Analyse zur detaillierten Beurteilung der Datenübertragung in Smartphones. Mit der neuen Option R&S CMW-KM051 kann der Wideband Radio Communication Tester R&S CMW500 IP-basierende Applikationen umfassend analysieren und testen. Kostengünstiges Boundary-Scan-Einstiegspaket19. Februar 2013 - Für Technologieeinsteiger oder Anwender mit kostensensiblen Projekten stellt GÖPEL electronic ein spezielles JTAG/Boundary-Scan-Paket bereit. PicoTAP Designer Studio ist ein komplettes Boundary-Scan-Testsystem, bestehend aus Hard- und Software, und bietet ein extrem günstiges Preis-Leistungs-Verhältnis. Das Paket beinhaltet neben einem Mixed Signal I/O-Modul auch den weltweit kleinsten Boundary-Scan-Controller PicoTAP, welcher über USB mit Strom versorgt wird und direkt in das I/O-Modul eingesteckt werden kann. EMV 2013: EMV-Messempfänger beschleunigt Precompliance-Messungen19. Februar 2013 — Mit dem R&S ESRP präsentiert Rohde & Schwarz einen neuen EMV-Messempfänger für Precompliance-Messungen. Mit ihm können Entwickler EMV-Probleme in Komponenten und Geräten bereits im Entwicklungsprozess aufspüren und beheben. So bringen sie ihre Produkte schnell bis zur Serienreife. Das Gerät ist für den Frequenzbereich von 10 Hz bis 7 GHz konzipiert und dabei nicht nur ein extrem schneller EMV-Messempfänger mit normgerechten Bandbreiten und Detektoren, sondern auch ein vollwertiger Spektrumanalysator. HIL-Test für Automotive-Karosserieelektronik18. Februar 2013 - dSPACE hat seine SCALEXIO Hardware-in-the-Loop (HIL)-Systeme um das neue DS2690 Digital I/O Board erweitert. Das speziell für die Karosserieelektronik konzipierte DS2690 verfügt über eine hohe Anzahl digitaler Kanäle, die alle Varianten und Funktionen digitaler I/O-Signale abdecken. Die Funktionen der I/O-Kanäle können leicht neu programmiert werden. So bleiben Anwender flexibel, wenn es darum geht, das HIL-Testsystem an unterschiedliche Steuergeräte anzupassen. Gang-Tester ermöglicht deutliche Steigerung des Produktionsdurchsatzes14. Februar 2013 - GÖPEL electronic stellt mit dem SFX-TAP16/G-RM eine neue Variante seines TAP-Transceivers zum parallelen Testen und Programmieren von bis zu 16 Baugruppen an. Durch die platzsparende Lösung mit integrierter Systemstromversorgung lässt sich zudem der Durchsatz bei UUTs (Units Under Test) mit nur einem TAP (Test Access Port) um den Faktor 16 erhöhen, was in einer deutlichen Verbesserung der Produktionseffektivität und Senkung der Investitionskosten resultiert. Neues Fachbuch über Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung07. Februar 2013 – Im VDE Verlag ist ein neues Fachbuch mit dem Titel "Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung" erschienen. Das Buch beginnt mit einem Überblick über die wichtigsten in der Fertigung auftretenden Fehler, beschreibt dann die gängigen Testverfahren für elektronische Baugruppen und zeigt schließlich , wie die Fehlerabdeckung durch die Kombination unterschiedlicher Testverfahren erhöht werden kann. Testszenarien für LTE-Advanced Carrier Aggregation06. Februar 2013 — Rohde & Schwarz hat seinen R&S CMW500 Wideband Radio Communication Tester mit neuen Software-Optionen für LTE-Advanced Downlink Carrier Aggregation ausgestattet. Mit Carrier Aggregation können Netzbetreiber Frequenzbänder verschiedener Bandbreiten flexibel kombinieren und ihr Spektrum noch besser nutzen. Die mobilen Endgeräte sind im LTE-Advanced-Netz im Downlink mit zwei Zellen gleichzeitig verbunden. Weitere Beiträge ...
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