|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsKongressprogramm für SMT/HYBRID/PACKAGING 2010 veröffentlicht21. Dezember 2010 - Für den vom 08. bis 10. Juni 2010 parallel zur Messe SMT/HYBRID/PACKAGING 2010 stattfindenden Kongress steht nun das Programm fest. Unter dem Motto „Embedding-Technologien" werden Trends und aktuelle Lösungsansätze aus dem Bereich der elektronischen Baugruppenfertigung aufgezeigt. Ergänzend finden insgesamt 20 Tutorials statt.
National Instruments erweitert HIL-Simulationsplattform21. Dezember 2009 - National Instruments hat seine Plattform für Hardware-in-the-Loop-Simulationen (HIL) deutlich erweitert. Allein in den vergangenen sechs Monaten hat NI fast 40 neue Produkte auf den Markt gebracht, die dafür konzipiert sind, Entwicklern von Embedded-Steuer- und -Regelsystemen flexible HIL-Lösungen bereitzustellen.
Corelis gründet europäische Niederlassung
18. Dezember 2009 - Corelis, Inc., ein amerikanischer Anbieter von Boundary-Scan Test- und Messtechnik, hat mit ‘Corelis Europe' eine Niederlassung für den Vertrieb und die Kundenbetreuung in Europa aufgebaut. Neue LED-Kalibriernormale für optische Messgeräte18. Dezember 2009 - Instrument Systems stellt neu entwickelte LED-Kalibriernormale der Serie ACS-530 mit temperaturstabilisierten High-Power LEDs vor. Mit den neuen LED-Kalibriernormalen können Kunden ihre Messgeräte einfach und verlässlich überprüfen sowie den photometrischen Absolutwert nach den Vorgaben der Internationalen Beleuchtungskommission CIE selbst nachkalibrieren. Schnellere Glasfaser-Messungen durch neue OTDR-Firmware17. Dezember 2009 - Yokogawa stattet seine Familie der Rückstreumessgeräte (OTDR - Optical Time-Domain Reflectometer) mit einer neue Firmware aus, die zusätzliche Möglichkeiten für die Messung von Glasfaserkabeln bietet und die Messungen zudem beschleunigt.
NI und GÖPEL veranstalten Technologietag „Baugruppentest"17. Dezember 2009 - National Instruments und GÖPEL electronic laden bereits zum dritten Mal gemeinsam Ingenieure und Techniker aus verschiedenen Bereichen der Elektronikindustrie - von Design und Produktion über Qualitätssicherung bis hin zur Applikation - am 10. März 2010 zum Technologietag "Baugruppentest" nach Jena ein.
TAP wird GATE-Partner von GÖPEL electronic
16. Dezember 2009 - GÖPEL electronic gibt die Erweiterung seines Partnerprogramms GATETM (GOEPEL Associated Technical Experts) um ein zusätzliches Unternehmen bekannt. Der in Bremen ansässige Testspezialist Tietjen Automatisierte Prüftechnik (TAP) trat dem Allianzprogramm bei, um bei der Entwicklung und praktischen Implementierung neuer JTAG/Boundary Scan Produkte und Module sowie der Integration von JTAG/Boundary Scan in existierende Testsysteme aktiv zu sein.
Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |