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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsAutomatisches Erstellungscenter für Prüfadapter30. November 2009 - Die REINHARDT System- und Messelectronic GmbH hat ein Adapter-Erstellungscenter entwickelt, mit dem innerhalb eines halben Tages eine komplette In-Circuit-Test-Adaption inkl. Verdrahtung erstellt werden kann. Die Lösung bohrt die Wechselplatten der Nadelbettadapter für elektronische Flachbaugruppen und setzt die Stifte, alles automatisch.
Dynamische Digital I/O Karte für PXI und ABex27. November 2009 - Konrad Technologies stellt eine neue dynamische Digital I/O Karte KT-TM-401 vor, die sich beispielsweise für den Funktionstest von Automotive Steuergeräten mit parallelen Pattern-Tests, den Test von Geräten in der Luftfahrtindustrie, sowie als Non-Return-to-Zero Pin-Elektronik im Halbleitertest eignet.
GÖPEL electronic eröffnet drittes Firmengebäude27. November 2009 - GÖPEL electronic GmbH hat ein drittes Firmengebäude eröffnet. Dieses befindet sich in direkter Nachbarschaft zu den beiden Werken in Jena-Göschwitz. Zukünftig wird der Geschäftsbereich „Automotive Test" dort untergebracht sein.
Neues Automation-Toolkit für DASYLab26. November 2009 - measX erweitert die Möglichkeiten der Software DASYLab mit einer neuen Modulgruppe, dem „Automation"-Toolkit. Das Toolkit beinhaltet drei Module, die die Einsatzmöglichkeiten der Software für die Anwender deutlich erweitern.
Optisches In-Line-Inspektionssystem für flexible Testanforderungen26. November 2009 - GÖPEL electronic stellt mit seinen TOM In-Line Systemen eine flexible Lösung für eine automatische optische und elektrische Prüfung elektronischer Baugruppen vor. Das Spektrum der ausführbaren optischen Tests umfasst die Überprüfung der Bauteil-Anwesenheit und Polarität, von Selektivlötstellen, Displays- und LEDs sowie fluoreszierendem Schutzlack. Die optischen Tests lassen sich darüber hinaus mit dem JTAG/Boundary Scan Testverfahren kombinieren.
LXI RF Schaltmatrix für bis zu 2,5 GHz25. November 2009 - Pickering Interfaces erweitert sein Produktportfolio von LXI Systemen um die RF-Schaltmatrix 60-730 und 60-770, die sich für Frequenzen bis 2,5 GHz eignen und in verschiedenen Konfigurationen verfügbar sind.
Innovative Flying Probe Testzelle für In-Line-Betrieb25. November 2009 - SPEA präsentiert mit dem Flying Probe System SPEA 4030 seine neue In-Line-Generation. Das System basiert auf einem innovativen, kosteneffizienten und modularen Konzept und wurde speziell für den Einsatz in automatischen Produktionslinien mit In-Line-Betrieb entwickelt.
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Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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