|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsRohde & Schwarz und NMDG kooperieren bei Netzwerkanalyse27. September 2010 - Rohde & Schwarz will gemeinsam mit dem belgischen Unternehmen NMDG, einem hoch spezialisierten Anbieter für nichtlineare Netzwerkanalyse-Lösungen, sein umfangreiches Netzwerkanalyse-Portfolio in Richtung nichtlineare Messungen ausweiten. Optische Inspektion großer Baugruppen ohne perspektivische Verzerrungen24. September 2010 - Der Willicher AOI-Experte modus high-tech electronics hat eine Speziallinse für die Parallelprojektion von zu inspizierenden Objekten mit einer Größe bis DIN A2 entwickelt. Sie ermöglicht deren vollständige Abbildung für den Prüfvorgang - maßstabsgetreu ohne perspektivische Verzerrungen oder Verdeckungen durch höhere Baugruppenelemente. Kostengünstiger In-Circuit-Tester für kleine und mittlere Losgrößen23. September 2010 - Fehlende Bauteile, Kurzschlüsse, Unterbrechungen, schlecht oder gar nicht gelötete Bauelemente: Mit dem neuen In-Circuit-Testsystem TI²GER I von Schneider & Koch Ingenieurgesellschaft mbH, Bremen, steht ab sofort ein leistungsstarker und gleichzeitig kostengünstiger In-Circuit-Tester in Form einer kompakten Tischlösung zur Verfügung. Fernsteuerbares Mess- und Lastmodul für den Test von Steuergeräten21. September 2010 - Mit der über CAN fernsteuerbaren Baugruppe TC-LMC der SMART Electronic Development GmbH lassen sich nahezu alle Last- und Fehlersimulationszustände für Steuergerätepins abbilden. Das TC-LMC findet seinen Einsatz vor allem beim Hardware-Test von Baugruppen und Steuergeräten. Erfüllen FFT-basierte Emissions-Messsysteme die Anforderungen von CISPR 16?20. September 2010 - Seit der Einführung des ersten FFT-basierten Emissionsmesssystems für EMV-Messungen im Jahr 2008 wurde immer wieder diskutiert, ob derartige Geräte „CISPR- konform" sei. Wie die emv GmbH aus Taufkirchen mitteilt, wurde diese Frage nun durch eine Aktualisierung der CISPR 16 eindeutig in der Norm geklärt. Funktionsprüfung von Bedienteilen20. September 2010 - MCD Elektronik GmbH hat ein Funktionstestsystem für Bedienteile mit visueller Kontrolle entwickelt. Das Testsystem besteht aus einem 16HE Steuerungs-Messturm und zwei schwenkbaren Rundschalt-Adaptern und ermöglicht eine Prüfung von Display-Bedienteilen. Unterstützung für IEEE 1149.7 (cJTAG)16. September 2010 - GÖPEL electronic und IPextreme, ein Anbieter von IP (Intellectual Property) für System-On-Chip (Soc) Designer, haben im Rahmen einer längerfristigen Kooperation neue Instrumentierungen für den erst kürzlich verabschiedeten Debug- und Test-Standard IEEE1149.7 verifiziert. Dabei wurde im Ergebnis eine vollständige Kompatibilität zwischen der JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX® von GÖPEL electronic und dem IEEE1149.7 cJTAG Halbleiter-IP von IPextreme geschaffen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |