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Schaltsysteme für höheren Durchsatz beim Halbleitertest

07. September 2010 - Keithley Instruments, Inc. stellt zwei neue Schaltgrundgeräte vor: das Modell 707B mit sechs Steckplätzen und das Modell 708B mit einem Steckplatz. Die neuen Schaltgrundgeräte wurden speziell für den Test von Halbleitern sowohl im Labor, als auch in der Fertigung entwickelt und ermöglichen ohne Code-Änderungen einen deutlich höheren Testdurchsatz.

Durch die deutlich höhere Schaltgeschwindigkeit (kürzere Zeit zwischen der Übermittlung des Befehls und dem Herstellen der Verbindung) können diese Schalt-Grundgeräte Testfolgen schneller ausführen und insgesamt einen höheren Durchsatz erreichen. Die neuen Grundgeräte unterstützen auch die "Air Matrix" 8x12 High-Speed, Low-Leakage Matrix-Karte Modell 7174A von Keithley, die erste standardmäßige Schaltkarte, die einen Offset-Strom von weniger als 100fA auf allen Pfaden erreicht. Die Modelle 707B und 708B unterstützen außerdem drei andere populäre Matrix-Karten von Keithley. Die Modelle 707B und 708B sind ideal für den Einsatz in Halbleiter-Testsystemen, die System-SourceMeter®-Instrumente der Serie 2600A von Keithley beinhalten, das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS und vollautomatische Tester, wie das Integrated Testsystem S500-ACS und das Halbleiter-Parameter-Testsystem S530.

Die Modelle 707B und 708B verfügen über verschiedene Merkmale, um den Test von Halbleitern für die Hersteller schneller, flexibler und kostengünstiger zu machen:

• Die neue digitale Steuerplattform ermöglicht deutlich höhere Schaltgeschwindigkeiten und damit einen höheren Testdurchsatz. Selbst bei einer Kommunikation über GPIB kann das Modell 707B den Durchsatz um fast 40 % verbessern, ohne dass der Code verändert werden muss.

• Die aktualisierte Frontplatten-Bedienoberfläche vereinfacht Aufgaben wie das Konfigurationsmanagement und die Programmierung von Schaltmustern. Die Frontplatte zeigt die programmierbaren Zeilen- und Spaltennamen, den Status der Koppelpunkte (offen, geschlossen) und Zustandsmeldungen an. Die Grundgeräte können zudem Hunderte von Schaltkonfigurationen speichern und Kanalmuster in einem nichtflüchtigen Speicher ablegen und später wieder abrufen.

• Der embedded Test Script Prozessor (TSP®) ermöglicht eine Ausführung von Testskripts innerhalb des Instruments, was eine deutlich höhere Geschwindigkeit von Schalt-'Source'-'Measure'-Sequenzen ermöglicht. TSP-Link® ist eine sehr schnelle Systemerweiterungs- und Koordinationsschnittstelle, welche die Kopplung von Instrumenten und Schaltsystemen vereinfacht und die Kommunikation und Steuerung der Instrumente beschleunigt. Die sehr schnelle Schnittstelle mit kurzer Latenzzeit zu anderer TSP-basierender Hardware vereinfacht die Systemskalierung bei neuen Anforderungen.

Verschiedene Programmier-Optionen zur Fernsteuerung in den Modellen 707B und 708B gewährleisten eine größere Flexibilität bei der Konfigurierung sehr leistungsfähiger Schaltsysteme. Die Modelle 707B und 708B beinhalten die bewährte Standard GPIB-Schnittstelle, die sowohl die modernen SCPI/ICL, als auch die konventionellen DDC-Befehle unterstützt. Beide Grundgeräte lassen sich in bestehende Testsysteme integrieren, ohne dass neue Treiber oder Softwarerevisionen benötigt werden. Wie alle zum LXI-Standard konformen Instrumente verfügen auch die Modelle 707B und 708B über eine eingebaute Internetseite zur Fernsteuerung. Die Modelle 707B und 708B unterstützen außerdem eine Programmierung und Steuerung über den USB-Bus.