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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Exakte Positionsbestimmung mit Spezial-Schaltstift03 November 2014 - Mit dem neuen FEINMETALL Spezial-Schaltstift F487 lässt sich mit wenig Aufwand eine exakte Positionsbestimmung von Bauteilen oder Stecker-Elementen realisieren. Diese Funktionalität geht weit über die eines herkömmlichen gefederten Schaltstiftes hinaus. Während bisherige Schaltstifte nur einen Schaltpunkt nach einem spezifischen Hub aufweisen, sind bei diesem weiterentwickelten Schaltstift der Serie F487 zwei Schaltpunkte im Abstand von 1 mm integriert.
Neuer PXI-Vektorsignalanalysator und PXI- Signalgenerator von NI03. November 2014 – National Instruments hat einen leistungsstarken Vektorsignalanalysator für Mikrowellensignale bis 26,5 GHz mit einer sehr großen Bandbreite vorgestellt sowie einen Signalgenerator für die kontinuierliche Signalerzeugung mit bis zu 20 GHz. Diese beiden neuen Messgeräte ergänzen die umfangreiche Produktpalette der modularen Messgeräte von NI und erweitern die Messfunktionen der PXI-Plattform.
Test-Setup für mm-Wellen-5G-Anwendungen31. Oktober 2014 - Ab 2020 soll mit 5G die nächste Mobilfunkgeneration an den Start gehen. Bis dahin ist noch umfangreiche Forschungs- und Standardisierungsarbeit nötig. Rohde & Schwarz unterstützt Entwickler schon heute dabei, potentielle Technologien für den Zugang zu 5G-Mobilfunknetzen zu identifizieren: Auf dem 5G Global Summit in Südkorea demonstriert der Wireless-Experte ein Test-Setup für künftige 5G-Anwendungen im Millimeterwellenbereich.
Test und Programmierung von Texas Instruments MCUs31 Oktober 2014 - Universelle Prozessor-Emulation durch die VarioTAP-Technologie von GÖPEL electronic ist ab sofort auch für die Tiva C-Series von Texas Instruments verfügbar. Dabei wird der Prozessor über die Steuerung des nativen Debug-Port zu einem designintegrierten Test- und Programmierinstrument umfunktioniert. Im VarioTAP-Modell als Teil einer umfassenden IP-Library (Intellectual Property) sind sämtliche relevanten Zugriffsinformationen des jeweiligen Zielprozessors enthalten.
Testsystem für Display-Treiber-ICs für hochauflösende LCD-Panels30. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem neuen T6391 eine Testlösung für Display-Treiber-ICs (DDIs) der nächsten Generation vorgestellt. Damit lassen sich die embedded Funktionen der Treiber zur Steuerung hochauflösender LCD-Panels prüfen. Der neue Tester wurde speziell im Hinblick auf drei entscheidende Trends im DDI-Markt entwickelt: die steigende Pin-Zahl bei Display-Treibern, die höheren Geschwindigkeiten der Schnittstellen und die Integration vieler Funktionen - alles zusammen ermöglicht Displays mit höherer Auflösung.
Pseudo-Messungen im In-Circuit-Test vermeiden30. Oktober 2014 - Digitaltest, ein Anbieter von In-Circuit-, Flying-Probe- und Funktionstestern sowie Softwarelösungen für die Produktion stellt das neue Tool FailSim vor. Mit diesem kann der Anwender das Testprogramm-Debugging überprüfen und Pseudo-Tests erkennen.
Kostenloses Fachbuch zum XCP-Standardprotokoll29. Oktober 2014 – Von Vector Informatik ist nun die zweite, erweiterte Auflage des Fachbuchs „XCP – Das Standardprotokoll für die Steuergeräte-Entwicklung“ verfügbar. In der Neufassung haben die Autoren u.a. auch CAN FD als Transportschicht berücksichtigt. Das XCP-Fachbuch kann bei Vector kostenlos – gedruckt sowie in verschiedenen digitalen Versionen – angefordert werden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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