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Pseudo-Messungen im In-Circuit-Test vermeiden

30. Oktober 2014 - Digitaltest, ein Anbieter von In-Circuit-, Flying-Probe- und Funktionstestern sowie Softwarelösungen für die Produktion stellt das neue Tool FailSim vor. Mit diesem kann der Anwender das Testprogramm-Debugging überprüfen und Pseudo-Tests erkennen.

Hauptgrund für die Ausführung eines In-Circuit-Tests ist die Sicherstellung der Produktqualität durch die Überprüfung auf Produktionsfehler. Statistiken über die Testabdeckung des ICT erfassen typischerweise, dass für jedes Bauteil einer Baugruppe auch ein Test ausgeführt wird. Aber welche Aussagekraft hat dies, wenn das Prüfprogramm "Pseudo-Tests" beinhaltet, die auf fehlerhaftem Debugging gründen oder anderen Einflüssen auf die Messungen?

Während des Prüfprogramm-Debugs können viele Tests ausfallen mit dem zunehmenden Risiko, dass nicht richtig angepasste Parameter für den Test eingesetzt werden. Wird ein Bauteilwert mit falschen Messparametern erfasst, kann dies leicht zu "Pseudo-Messungen" führen, die eventuell niemals ausfallen werden. Auch Umgebungseinflüsse wie eingekoppelte Störungen von anderen Geräten (z.B. über Kabelverbindungen) können ebenso zu "Fake-Tests" führen und somit kann die Testqualität nicht länger gewährleistet werden.

Digitaltest hat sich Gedanken gemacht wie sich Fake-Tests vermeiden lassen, wie die Testprogrammqualität verifiziert und garantiert werden kann und wie können "Pseudo-Tests" erkannt werden.

Mit dem neuen Tool FailSim von Digitaltest kann dieses Problem für den analogen ICT gelöst werden. FailSim hilft solche Fehler zu vermeiden in dem es die Testbedingungen für Bauteilmessungen überprüft. FailSim verifiziert, dass ein ICT-Test (z.B. für R & C) auch wirklich Fehler erkennt, indem Bauteilfehler (falsche Werte) per Hardware-Simulation nachgebildet werden. Mittels dem zu messenden Bauteil parallel und seriell hinzugefügte Widerstände und Kondensatoren werden Messwerte außerhalb der Test-Grenzen simuliert und es wird damit überprüft, ob der aktuelle Test diese Fehler auch erkennt.

Mit FailSim kann so die Testqualität signifikant erhöht und damit die Qualitätssicherung verbessert werden. FailSim ist ab sofort bei Digitaltest GmbH erhältlich.

www.digitaltest.net/