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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsStrom-/Spannungs-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Elektronikbauteilen07. Juli 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine komplette Serie von Strom/Spannung- (I-V) Analysatoren für die Charakterisierung von Nanomaterialien und Elektronikbauteilen unterschiedlichster Art. Die neue Precision Current-Voltage Analyzer Serie bieten mächtige Analysefunktionen und genügen den Anforderungen zukunftsweisender Anwendungen. Die Serie umfasst Modelle unterschiedlicher Preis- und Leistungsklassen, darunter auch preisgünstige Einstiegsmodelle ab $5.000. Test- und Debug-Umgebung für XMC4700-/4800-SoCs von Infineon06. Juli 2015 – Eine optimierte Debug- und Testumgebung für die neuen XMC4700-/XMC4800-Mikrocontroller von Infineon stellt PLS Programmierbare Logik & Systeme Entwicklern mit der Version 4.4.5 ihrer Universal Debug Engine (UDE) zur Verfügung. Die auf einem Cortex-M4-Prozessor mit Floating Point Unit (FPU) basierenden, speziell für den industriellen Einsatz konzipierten 32-Bit-SoCs zeichnen sich durch außergewöhnliche Peripheriefunktionen wie beispielsweise eine EtherCAT-Kommunikationseinheit (XMC4800-Serie) und sechs CAN-Knoten aus. Schnelle AOI-Inspektion aus allen Richtungen03. Juli 2015 - GÖPEL electronic hat die 360°-Inspektion von Bauelementen und Lötstellen in den AOI-Systemen BasicLine und AdvancedLine verbessert. Durch den Einsatz neu entwickelter Optimierungsalgorithmen ist nun eine wesentliche Geschwindigkeitssteigerung für den gesamten Prüfablauf möglich. Insbesondere bei der Verwendung von zahlreichen Schrägblick-Inspektionen aus unterschiedlichen Richtungen kann die Zeiteinsparung bis zu 40% betragen. Zudem wird eine noch höhere Fehlererkennung erreicht. Störer und versteckte Sender auch bei Frequency Hopping entdecken02. Juli 2015 – Narda Safety Test Solutions hat die Leistungsfähigkeit seiner Interference and Direction Analyzer erweitert: Spektrogramme mit einer zeitlichen Auflösung bis zu 1 μs erlauben jetzt Einblicke in Signalstrukturen, wie sie sonst nur von großen Laborgeräten bekannt sind. Dadurch lassen sich auch Interferenzen und versteckte Sender mit schnell wechselnden Frequenzen analysieren und in weiteren Schritten peilen. Effiziente IMD-Messungen an aktiven Bauelementen01. Juli 2015 – Anritsu erweitert die IMD-Messmöglichkeiten (Intermodulation Distortion) seiner Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNA) der VectorStar-Plattform. Hierdurch stehen neue Messfunktionen für hochgenaue und effiziente IMD-Messungen an Verstärkern zur Verfügung. Teil der Erweiterung ist die neue Software IMDView, die eine fortschrittliche und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) bereitstellt. Sie vereinfacht komplexe IMD-Messungen und ermöglicht eine gründliche IMD-Evaluierung. Signalgenerator mit DAB/DMB-Funktionen30. Juni 2015 – IZT hat seinen Signalgenerator S1000 um neue Features für Digital Audio Broadcasting (DAB) erweitert. Die neue DAB ContentServer Embedded Edition für den S1000 integriert DAB-, DAB+ und DMB-Multiplexing und macht die Funktionalität des DAB ContentServer auf dem S1000 Signalgenerator direkt verfügbar. Damit können DAB-Testsequenzen noch einfacher generiert und DAB-Empfänger mit dem S1000 in Echtzeit getestet werden. Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher29. Juni 2015 – Advantest stellt mit dem neuen T5833 System eine kostengünstige Testlösung für die Serienproduktion von Speicherbauteilen vor. Der Tester eignet sich sowohl für Wafer-Sort als auch für den Endtest von DRAM- und NAND-Flash-Speicher-Bauteilen und wird in diesem Monat an erste Kunden ausgeliefert. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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