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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsAbstimmbare Lasersignalquellen für den Test optischer Komponenten02. Oktober 2015 – Keysight Technologies stellt die neuen abstimmbaren Lasersignalquellen 81607A, 81608A und 81609A vor. Dabei handelt es sich um Module für das optische Messsystem Keysight 8164B. Die neuen Module erweitern Keysights Familie abstimmbarer Lasersignalquellen, deren erstes Modell (81606A), das im März 2015 vorgestellt wurde und sich durch höchste Reproduzierbarkeit und Wellenlängengenauigkeit auszeichnet. Selbst bei bidirektionalen Sweeps mit voller Geschwindigkeit liegen die Werte im Sub-Picometer-Bereich. Göpel electronic beschleunigt 3D-Röntgeninspektion01. Oktober 2015 - Mit dem „X40 PLUS“ Upgrade ermöglicht das In-Line AXI-System von GÖPEL electronic ab sofort eine noch schnellere High-End 3D-Inspektion komplexer Baugruppen. Dabei wird eine Geschwindigkeitssteigerung der Röntgeninspektion um bis zu 18 Prozent erreicht. Messmodul mit TEDS-Unterstützung29. September 2015 – IPETRONIK unterstützt mit der Lemo-2B-Version seines Multifunktionsmodul Sx-STG die Verwendung von TEDS-Sensoren (Tansducer Electronic Data Sheet). Dieser unter IEEE-1451.4 definierte Plug & Measure-Standard enthält unter anderem Informationen über die Identifikationsnummern des Sensors, die Kalibrierung und den Hersteller. Er ermöglicht so die flexible, fehlerfreie Anpassung des Moduls an neue Sensorparameter. Umfassende PAM-4-Analyse-Lösung29. September 2015 - Tektronix präsentiert ein umfassendes Set an Analyseinstrumenten für die neuen PAM-4-Modulationsmessungen, das sowohl optische als auch elektrische Schnittstellen unterstützt. Die neuen Instrumente unterstützen sowohl das Echtzeit-Oszilloskop DPO70000SX (70 GHz) als auch das Sampling-Oszilloskop DSA8300. Dadurch können die richtigen Ergebnisse unabhängig von der für eine bestimmte Anwendung erforderlichen Instrumenten-Konfiguration mit höchster Präzision und Genauigkeit sichergestellt werden. PXI-Fehlersimulationsmodule für differentielle, serielle Schnittstellen28. September 2015 – Pickering Interfaces erweitert sein Angebot im Bereich der PXI Fehlersimulation um zwei neue Module (40-200 und 40-201) für den Test von differentiellen seriellen Schnittstellen. Das PXI Modul 40-200 ist für Schnittstellen mit niedrigerer Datenrate wie CAN und FlexRay ausgelegt. Für hohe Datenraten wird das Fehlersimulationsmodul 40-201 eingesetzt, das für AFDX und 1000BaseT Ethernet geeignet ist. Arbiträrsignalgenerator mit derzeit höchster Abtastrate, Bandbreite, Auflösung und Kanaldichte25. September 2015 – Keysight Technologies hat sein Angebot an Arbiträrsignalgeneratoren um ein modulares Modell mit bis zu 92 GSa/s Abtastrate und 32 GHz Bandbreite erweitert. Der neue Hochgeschwindigkeits-/Breitband-Arbiträrsignalgenerator M8196A ermöglicht es, mehrwertige Digitalsignale (beispielsweise PAM-4, PAM-8 oder DMT) mit 8 Bit Amplitudenauflösung zu erzeugen und elektrische oder optische Verbindungen mit Hilfe komplex modulierter Signale bis 64 GBaud zu testen. SMD-TEC ist neuer Repräsentant von Viscom in Benelux24. September 2015 – Viscom und SMD-TEC arbeiten ab sofort in Benelux eng zusammen. Die Viscom AG, ein Hersteller von Inspektionssystemen für die Elektronikindustrie, wird in Benelux ab sofort von SMD-TEC als neuem Repräsentanten vertreten. Geschäftsführer Tom Van Tongelen hat SMD-TEC aus der ehemaligen Benelux-Niederlassung von Essemtec zu einem eigenständigen Vertriebs- und Serviceunternehmen ausgebaut. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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