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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-Test
Integrierte Testzelle für MEMS-basierte Reifendruck-Sensoren21. Mai 2014 - Advantest hat eine voll integrierte Testzelle für die Endprüfung von MEMS-basierten Sensoren installiert. Diese Sensoren gehören zu Reifendruck-Überwachungssystemen (TPMS) für den schnell wachsenden Automobilmarkt in China. Die Testzelle wurde qualifiziert und wird inzwischen in der Serienproduktion am Standort des Kunden sowie zusätzlich bei einem OSAT-Partner (Outsourced Semiconductor Assembly and Test) eingesetzt.
Funktions- und Kapazitätstests sowie Kalibrierung von e-Bike-Akkus vor Ort30. April 2014 - Ein speziell auf die Bedürfnisse des eBike-Fachhandels abgestimmtes multifunktionales Prüfgerät für Akkus und Ladegeräte ist ab Mai dieses Jahres bei der batteryuniversity.eu erhältlich. Das leicht bedienbare ATGF 1500 eignet sich für nahezu alle von den eBike-Herstellern Derby Cycle, Gazelle, Simplon und ZEG verwendeten Akkusysteme.
Vektornetzwerkanalysator für Frequenzbereich 70 kHz bis 145 GHz16. April 2014 – Anritsu stellt mit dem VectorStar ME7838D einen breitbandigen Vektornetzwerkanalysator vor, der den Betriebsfrequenzbereich von 70 kHz bis 145 GHz in einem Einzelsweep (Single Sweep) abdecken kann. Durch den erstklassigen Dynamikbereich, sowie eine hohe Kalibrier- und Messstabilität und Messgeschwindigkeit eignet sich das VectorStar ME7838D System ideal für die Durchführung von On-Wafer-Charakterisierungen bei Frequenzen von 70 GHz und darüber.
Skalierbare, kostengünstige Testlösung für eFlash-Halbleiter01. April 2014 - Advantest erweitert die Möglichkeiten seiner V93000 Testplattform mit dem neuen DPS128HV Modul. Dieses enthält eine hochdichte Bauteil-Stromversorgung (DPS) für einen großen Betriebsspannungsbereich und erlaubt damit den Test von Bauteilen, wie eFlash-Speicher-ICs. Mit dem neuen Modul lässt sich die Advantest V93000-Testplattform einfach von einer Konfiguration mit wenigen Kanälen bis hin zu einer hohen Kanalzahl skalieren, so dass sich die jeweils wirtschaftlichste Testlösung für die zu prüfenden Bauteile ergibt.
Sichere Hochspannungs-Durchbruchtests bis zu 10 kV28. März 2014 - Keithley Instruments stellt zwei neue Hochspannungs-Stromversorgungen vor, die für Hochspannungsbauelemente und die Materialprüfung sowie die Hochenergie-Physik und Materialforschung optimiert wurden. Die Stromversorgungen Modell 2290-5 5 kV und Modell 2290-10 10 kV sind ideal für einen Hochspannungs-Durchbruchtest von Leistungshalbleitern geeignet. Hierzu gehören Bauelemente der aktuellen und künftigen Generation von Materialien mit großer Bandlücke, wie Siliciumkarbid (SIC) und Gallium-Nitrid (GaN).
Digitale Kanalkarte für den Test von extrem schnellen SerDes-Halbleitern19. März 2014 - Advantest hat die neue digitale Pin Scale Serial Link (PSSL) Kanalkarte für die At-Speed-Charakterisierung und die Serienproduktion von aktuellen Hochgeschwindigkeits-Halbleitern vorgestellt. PSSL ist das derzeit schnellste voll integrierte ATE-Instrument (Automated Test Equipment) und unterstützt Datenraten bis zu 16 Gbps.
Batterietester zur Bestimmung wichtiger Batterieparameter11. März 2014 - Das portable Universal-Messgerät CTL400 misst in kurzer Zeit mit hoher Genauigkeit die wesentlichen Parameter von Einzelzell- oder Multizell-Batteriemodulen. Mithilfe von Spannungsmessungen und DC-Widerstandstests des CTL400 lässt sich das Rätselraten über den Zustand von Batterien eliminieren. Messergebnisse werden auf dem beleuchteten Grafik-LCD-Display angezeigt und im internen Flash-Memory gespeichert. Das Gerät erfasst die Messwerte mit einer Genauigkeit von vier Stellen. Weitere Beiträge ...
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