|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestUniverselles analoges Pin-Modul für den Bauteiltest11. März 2016 – Advantest Corporation hat mit der Auslieferung des neuen DC Scale AVI64 Moduls begonnen. Die skalierbare V93000 Plattform bietet damit das derzeit auf dem Markt breiteste Anwendungsspektrum. Mit der innovativen universellen analogen Pin-Architektur von Advantest erweitert das 64-Kanal-Modul den Einsatzbereich der V93000 Plattform auf den Test von Leistungs- und Analog-ICs. Diese kommen in intelligenten, vernetzten Elektronikgeräten der schnell wachsenden Mobilfunk-, Automotiv- und IoT- (Internet der Dinge) Märkte zum Einsatz. Batterie-Emulatoren und Batterie-Lade/-Entladegeräte für verschiedenste Anwendungen04. März 2016 – Caltest Instruments bietet mit den innovativen Hochvolt-Batterie-Emulatoren und Batterie-Lade-/Entlade-Testgeräten von Cinergia umfassende Lösungen für Batterietests an. Bei beiden Gerätearten handelt es sich um 2-Quadranten DC-Quellen, die bis zu 100% Rückspeisung ins Netz ermöglichen und mit Leistungen von 6,75 kW bis 160 kW, mit einer Spannung bis 750 VDC und Strömen bis ±690 ADC verfügbar sind. Batteryuniversity für Batterieprüfungen gemäß DIN EN ISO/IEC 17025:2005 akkreditiert02. März 2016 - Die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS) hat die Batteryuniversity GmbH mit Wirkung vom 26. Januar 2016 als Prüflabor für Batterien akkreditiert. Das erfolgreich abgeschlossene Zulassungsverfahren bescheinigt dem Unternehmen die Befähigung, Prüfungen gemäß DIN EN ISO/IEC 17025:2005 nach den Kriterien des UN-Handbuchs „UN ST/SG/AC.10/11/Rev.5 und 6, Part III, Section 38.3 Lithium metal and lithium ion batteries“ (sog. UNTransporttest) durchzuführen. Hochparallele IC-Tests mit neuem Performance-Board21. Januar 2016 – Advantest ermöglicht mit der neuen RECT550EX HIFIX (High-Fidelity Test Access Fixture) Einheit die Durchführung hoch paralleler Tests auf der T2000 System-on-Chip (SoC) Testplattform. Das RECT550EX HIFIX bietet 50 Prozent mehr Anwendungsfläche und unterstützt 30 Prozent mehr Kanäle als das vorherige RECT550 HIFIX Modell, wodurch hoch parallele und simultane Messungen möglich sind. Memory Testsystem für UFS- und PCIe BGA SSDs15. Januar 2016 – Advantest stellt mit dem T5851 System eine kostengünstige Testlösung für leistungsfähige UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und PCIe BGA Halbleiter-Speicherlaufwerke (SSDs) vor. Diese Memory-ICs werden derzeit besonders von den Herstellern stromsparender, mobiler Anwendungen wie Smartphones, Tablets und kompakten Notebooks stark nachgefragt. Temperatur- und Druck-Stimulus für Test von Drucksensoren21. Dezember 2015 – Advantest stellt die Temperatur- und Druck-Stimulus-Einheit HA7200 vor. Diese wurde speziell für eine genaue Temperatur- und Druck-Stimulierung beim Endtest von Drucksensoren entwickelt. Bis zu vier Sensoren können in einer kleinen Kammer unter Temperatur geprüft werden, die anhand der Dual-Fluid-Technologie der Advantest Testhandler gesteuert wird. Der HA7200 erlaubt eine schnelle und hochgenaue Einstellung von Temperatur und Druck und verbessert dadurch die Zykluszeit und Genauigkeit der Abgleich- und Inspektionsprozesse deutlich. Kompakter Halbleitertester für digitale ICs11. Dezember 2015 - Advantest stellt mit der EVA100 Digital Solution das neuste Produkt der wachsenden EVA100 Messsystem-Familie vor. Das System eignet sich für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, wie IoT-Bauteilen, Mikrocontrollern (MCUs), DFT- (Design-for-Test) und BIST- (Built-in Self-Test) Halbleitern sowie Logik-ICs. Es ist sowohl als Produktions- als auch als Entwicklungs-Modell verfügbar und eignet sich für die Design-Evaluierung, Frontend- und Backend-Messungen, Fehler-Analyse, Package-Verifikation und die Abnahmeprüfung von Bauteilen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |