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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsSSD-Produktionstest für große Stückzahlen09. August 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem MPT3000HVM System eine neue Plattform für den Test von SATA-, SAS- und PCIe-Halbleiterspeichern (SSDs) vor. Die Lösung deckt die gesamte Produktpalette von sehr leistungsfähigen Unternehmenslösungen bis hin zu kostengünstigen Client-SSDs ab. Das System nutzt die bewährte MPT3000 Tester-per-DUT (Device unter Test) Architektur und die einzigartige Hardware-Beschleunigung in einer neuen hochdichten Konfiguration. Tektronix stellt neues Oszilloskop der Einstiegsklasse vor08. August 2016 - Tektronix präsentiert mit dem TBS2000 ein Basis-Oszilloskop, das sich sich durch die derzeit längste Aufzeichnungsdauer und das größte Display seiner Klasse auszeichnet und somit eine schnellere Signalevaluierung und Fehlersuche ermöglicht. Entwicklungsingenieure und Ausbilder können mit dieser neusten Produktlösung des Tektronix-Portfolios selbst bei begrenztem Budget die große Tastkopf-Palette von Tektronix nutzen. Keysight erweitert Angebot an PXI/AXIe-Testlösungen05. August 2016 – Keysight Technologies hat sein Angebot an PXI- und AXIe-Messgeräten und Referenzlösungen erweitert. Die neuen Messgeräte und Lösungen sind vielseitig einsetzbar und umfassen unter anderem einen PXIe-Vektor-Transceiver (VXT) und neue PXIe-SMUs für den Test von HF-Leistungsverstärkern und Front-End-Modulen. NI LabVIEW 2016 mit zahlreichen Neuerungen04. August 2016 – National Instruments hat auf der NI Week mit LabVIEW 2016 die aktuelle Version seiner Systemdesignsoftware vorgestellt. Diese ermöglicht eine vereinfachte Anwendungsentwicklung und effizientere Integration von Software aus dem NI-Ökosystem. Die neueste Version von LabVIEW bietet unter anderem neue Kanalverbindungen, mit denen sich der komplexe Datenaustausch zwischen parallelen Programmabschnitten vereinfachen lässt. Fehlersuche an MIPI M-PHY-Schnittstellen mit dem Oszilloskop04. August 2016 -- Die neue R&S RTO-K44 Option für das R&S RTO2000 Oszilloskop von Rohde & Schwarz bietet leistungsstarke Trigger- und Dekodier-Funktionen für die Fehlersuche bei Designs mit MIPI M-PHY-basierten Protokollen. Definiert als physikalischer Layer dient M-PHY als Grundlage für eine Vielzahl von Protokoll-Standards, die für eine schnelle Datenübertragung im Ecosystem von mobilen Endgeräten optimiert sind. Elektronische Lasten ermöglichen Innenwiderstandsmessung03. August 2016 - Höcherl & Hackl hat die elektronischen Lasten der Serie PLI mit neuen Funktionen ausgestattet. Zur Ergänzung der Energiespeicher-Prüffunktion wurde die Software des Gerätes um eine Innenwiderstandsmessung erweitert. Zwei einstellbare Ströme mit der dazugehörenden Verweildauer spezifizieren die Prüfung. Die Innenwiderstandsmessung ist eine eigene Funktion, losgelöst von der Energiespeicherprüfung. Somit können auch Innenwiderstände von Kabeln, Stromquellen usw. gemessen werden. Parameter-Analysator für schnelle und einfache Charakterisierung02. August 2016 - Tektronix hat mit dem Keithley 4200A-SCS einen anpassbaren und voll integrierten Parameter-Analysator vorgestellt. Das System ermöglicht einen schnellen Einblick in Halbleiter-Bauteile, Materialien und Prozesse und liefert eindeutige, genaue Ergebnisse. Dabei wird besonders für neue oder gelegentliche Anwender die Komplexität der Charakterisierung deutlich reduziert und die Testeinrichtung vereinfacht. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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