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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsPrüfabdeckung schon in der Planungsphase abschätzen04. Oktober 2017 – Die Viscom AG stellt mit dem 3D Planner ein Software-Tool vor, mit dem offline verschiedenste Prüfszenarien getestet und bewertet werden können. So lässt sich bereits in der Entwicklungsphase neuer Leiterplatten oder bei der Planung des Fertigungsprozesses die optimale Prüfabdeckung ermitteln. Wie die beste Kombination von Inspektionstechnologien für eine Leiterplatte aussieht, und wie sich diese auf den Durchsatz auswirkt sind Fragen, die für die Produktqualität und Prozesseffizienz von entscheidender Bedeutung sind. Leistungsmessgerät für einphasige Messungen02. Oktober 2017 - GW Instek hat ein vielseitiges Leistungsmessgerät speziell für die einphasige (1P/2W) Leistungsmessung von AC-Netzteilen ins Programm aufgenommen. Das Gerät ermöglicht hochgenaue Spannungs-, Strom- und Leistungsmessung und kann je nach Modus 4 bzw. 8 Messparameter gleichzeitig auf dem 5-stelligen Display darstellen. Schnellere Entwicklung von Boundary-Scan-Tests29. September 2017 – XJTAG, ein Anbieter von Boundary-Scan-Technologie, hat ein wichtiges Update für seine Software XJDeveloper vorgestellt. XJTAG v3.6 umfasst mehrere neue auf Produktivität und Automatisierung fokussierte Erweiterungen, die es Ingenieuren ermöglichen auch komplexeste Baugruppen in deutlich weniger Zeit zu testen. AC-Quellen bis 3 kVA Ausgangsleistung28. September 2017 - Compumess Elektronik erweitert sein Angebot an programmierbaren AC-Spannungsquellen des Herstellers California Instruments /Ametek um Modelle mit 3 kVA Ausgangsleistung. Bisher waren nur Quellen mit 500, 750 und 1.500 VA erhältlich. Bemerkenswerk ist die hohe Leistungsdichte in 1 HE oder 2 HE: die 1-HE-Versionen gibt es mit 500, 750 und 1.500 VA (einphasig), während die 2-HE-Ausführungen Leistungen von 1.500, 2.250 und 3.000 VA (ein- oder dreiphasig) erreichen. Charakterisierung von neuen Speichertechnologien27. September 2017 – Keysight Technologies präsentiert eine dedizierte Lösung für die Charakterisierung von magnetischen Tunnelkontakten (MTJ, Magnetic Tunnel Junction) für STT-MRAM (Spin Transfer Torque Magnetoresistive Random Access Memory) Speicherzellen. Die neue NX5730A High-Throughput 1 ns Pulsed IV Memory Testlösung wurde speziell für Forscher und Entwicklungsingenieure entwickelt, die MTJ-Speicherzellen auf Silizium-Wafern charakterisieren müssen. Signal- und Spektrumanalysator mit 5 GHz Analysebandbreite26. September 2017 -- Der Signal- und Spektrumanalysator R&S FSW85 von Rohde & Schwarz verfügt über eine 5 GHz Analysebandbreite für die Analyse von Breitbandsignalen wie FMCW-Chirpsignale für Automotive Radar, Signale nach dem Standard IEEE 802.11ay sowie 5G-Wellenformkandidaten. Die neue Option R&S FSW-B5000 eignet sich besonders für die Charakterisierung von Breitbandkomponenten und -systemen. Elektro-Optisches Test- und Kalibriersystem von VIS bis IR25. September 2017 - Labsphere und Santa Barbara Infrared (SBIR) präsentieren COLOSUS, das erste elektro-optische (E-O) Komplett-System für Test und Kalibration, welches den gesamten Wellenlängenbereich von 0.3 µm bis 14 µm integriert (UV, VIS, NIR, SWIR, MWIR, und LWIR). Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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