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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsTestlösungen für Radar-Echo-Generierung und Radom-Messungen27. November 2017 - Rohde & Schwarz hat ein komplett neues Portfolio an Automotive-Radar-Testlösungen entwickelt. Die innovativen Lösungen basieren auf fundiertem Expertenwissen im Bereich Mikrowellen- und Millimeterwellentests. Sie reichen von der Analyse von Radomen bis zur Erzeugung multidimensionaler Automotive-Radar-Echo-Umgebungen und eignen sich für den Einsatz in Entwicklung, Validierung, Zertifizierung und Produktion. Schnellere Signalverarbeitung bei Digitizern24. November 2017 - Schnelle Digitizer haben in der Regel einen Engpass bei der Signalverarbeitung, entweder durch den Prozessor des Host-PCs mit nur 8 oder 16 Kernen, oder ein komplex zu programmierendes FPGA. Spectrum Instrumentation löst dieses Problem mit der neuen SCAPP-Option (Spectrum’s CUDA Access for Parallel Processing). Mit SCAPP kann ein CUDA-basierter Prozessor (GPU) der Grafikkarte direkt zwischen jedem Spectrum Digitizer und dem PC benutzt werden. Neues EMV-Testzentrum bei Ingolstadt23. November 2017 - Die AKKA Group erweitert ihr Dienstleistungsangebot am Automobilstandort Ingolstadt um EMV-Tests. Im Interpark bei Kösching wurde hierfür ein rund 1.600 Quadratmeter großen EMV-Testzentrums errichtet, das heute offiziell eingeweiht wird. Leises PXI-Chassis mit 58 W Leistung und Kühlung pro Steckplatz22. November 2017 – National Instruments (NI) stellt mit dem PXIe-1095 ein PXI-Chassis mit 58 W Leistung und Kühlung pro Steckplatz vor. Damit bietet es 50 Prozent mehr Leistung und Kühlung pro Steckplatz als bisherige Versionen des PXI-Express-Chassis von NI. Neben einer höheren Leistung weist das neue Chassis auch eine deutliche Reduzierung der Lüftergeräusche auf, wenn es bei einer Kühlleistung von 38 W betrieben wird. Flexibles Inline-Röntgensystem für größere Baugruppen21. November 2017 – Auf der productronica hat Viscom AG ein neues Lösungskonzept für eine flexible Inline-Röntgenprüfung präsentiert, das sich derzeit in der Erstfertigung befindet. Die Basis für die Entwicklung des neuen X8068 SL-Prüfsystems bilden die Anforderungen der Elektronikhersteller, die speziell für den wachsenden e-Mobility-Markt größere Leiterplatten, verschiedenste Leistungselektronik und massive Sonderbauteile fertigen. Innerhalb dieser Fertigung bedarf es einer höchst präzisen und zerstörungsfreien Röntgeninspektion, die eine ganze Bandbreite an Prüfobjekten zuverlässig und schnell inspiziert. Oszilloskop-Kanalerweiterung für bis zu 24 Sensorsignale20. November 2017 - Teledyne LeCroy präsentiert mit dem SAM40 eine Erweiterung für die 12-Bit High Definition Oszilloskope, die bis zu 24 zusätzliche Eingangskanäle für langsame Signale zur Verfügung stellt. Die Kanäle haben eine 24-Bit Auflösung und eine absolute Genauigkeit von ~0,05%. Built-in Filter mit einer Einstellung kleiner als 100 Hz reduzieren zusätzlich das Rauschen. MSO-Oszilloskop-Module für den Gestelleinbau17. November 2017 - Tektronix stellt MSO-Oszilloskope der Serie 5 in Modulform für den Rack-Einbau und den Einsatz in automatischen Testsystemen (ATE) vor. Diese basieren auf den Mixed-Signal-Oszilloskopen der Serie 5 und beinhalten auch die innovative FlexChannel Technologie und 12-Bit-ADCs (Analog-Digital-Wandler). Die Instrumente zeichnen sich durch eine geringe Bauhöhe aus und bieten eine optimale Kombination von Kanaldichte, Leistungsfähigkeit und Kosten pro Kanal sowie eine Bandbreite von 1 GHz. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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