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Freitag, den 03. April 2009 um 17:26 Uhr |
Protokoll-basiertes Testsystem für RFID-Komponenten
03. April 2009 - Konrad Technologies hat eine komplette Familie von Protokoll-basierter Tester für den Test von RFID-Tags, RFID-Readern, Smartcards, schlüssellosen Zugangssystemen, Reifendrucksensoren, usw. entwickelt.
Eine erste Version des neuen Testsystems KT-7200 „FINN" wurde bereits im Oktober 2008 auf der SEMICON Europe in Stuttgart vorgestellt. Das System basiert auf PXI-Instrumenten und ist in der Lage die Kommunikation von RFID-Produkten mit allen für RFID relevanten ISO-Standards zu testen (LF, HF, UHF - DC...1 GHz). Hauptmerkmal der implementierten Lösung ist ein hochperformanter Test von bis zu 64 parallelen Prüflingen mit extrem kurzen Antwortzeiten in Echtzeit. Die Testzeiten bewegen sich, je nach Produkt, im zweistelligen Millisekunden-Bereich, bei vollem Ausbau der Parallelität. Das Testsystem zeichnet sich durch langlebige Schnittstellen, Hochverfügbarkeit, hohe Prozesssicherheit und Messmittelfähigkeit im Produktionsumfeld aus. Eine äußerst komfortable Softwarearchitektur ermöglicht die schnelle Integration neuer Prüflinge und aller relevanter Protokoll-Parameter.
Das neue Testsystem eignet sich für den gesamten Lebenszyklus eines Produktes. Von der Validierung der ersten Muster, über die Charakterisierung, bis hin zum Produktionstest, können die Prüflinge mit derselben Plattform getestet werden. Zudem kann das System sehr einfach den aktuellen Testbedürfnissen angepasst werden, z.B. durch Aufrüsten von Source Measurement Units (SMU), Scopes, Pattern I/O-Instrumenten (digitale Pins) und der PXI RF-Suite.
www.konrad-technologies.de
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