|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und Messtechnik
Call for Papers zur PCIM Europe Konferenz eröffnet21. August 2013 - Mit dem Call for Papers zur PCIM Europe Konferenz 2014 werden Beiträge zur Leistungselektronik und deren Anwendungen gesucht. Letzter Termin für die Einreichung von Vorträgen ist der 15. Oktober 2013.
Rohde & Schwarz nimmt neuen Bürokomplex in Betrieb19. August 2013 - Rohde & Schwarz hat seinen Hauptsitz in München weiter ausgebaut. Rund 60 Millionen Euro hat das weltweit agierende Familienunternehmen in einen neuen Bürokomplex in der Nähe vom Ostbahnhof investiert. Das Gebäude nach einem Entwurf der Architekten KSP Jürgen Engel wurde im Juni fertiggestellt und bereits bezogen.
Modularer Hochspannungstester bis 5.000 Volt16. August 2013 - ST-Testsystems GmbH hat ein neues modulares Testsystem für den Hochspannungstest von Isolationswiderständen und die Spannungsfestigkeit von Leitungssätzen und Komponenten vorgestellt. Das Testsystem ist modular konfigurierbar und erfolgt im 19“-System. Es kann jederzeit um Quellen, Messgeräte und Testpunkte erweitert werden. Es stehen verschiedene Relaiskarten von 1.500, 3.000 und 5.000V zur Verfügung. Source Measure Unit Instrument mit kapazitivem Touchscreen14. August 2013 - Keithley Instruments stellt das erste Source Measure Unit (SMU) Benchtop-Instrument mit graphischer Bedienoberfläche und kapazitivem Touchscreen vor. Das SourceMeter-SMU-Instrument Modell 2450 kombiniert einen intuitiven Touchscreen und eine Icon-basierende Steuerung und eignet sich dadurch auch für weniger erfahrene Anwender.
Hochpräzise Stromwandler für Ströme bis zu 600 A12. August 2013 - ZES ZIMMER bietet jetzt hochpräzise Messwandler der Typen DS200 und DS600 von Danisense an, die auf dem Nullfluss-Prinzip basieren. Dabei wird der durch den Primärstrom erzeugte Magnetfluss durch einen Sekundärstrom kompensiert, der exakt proportional zum Primärstrom ist. Der DS200 wandelt Ströme bis zu 200 A im Verhältnis 1:500, der DS600 Ströme bis zu 600 A im Verhältnis 1:1.500. Der intrinsische Fehler beider Typen beträgt maximal 0,5 ppm des Messbereichs.
Rückspeisende Quellen-Senken-Systeme für den Niederspannungsbereich09. August 2013 - Netzrückspeisende Quelle- / Senkesysteme der TopCon TC.GSS Familie des Schweizer Herstellers Regatron sind jetzt auch im unteren Spannungsbereich bis 200 VDC erhältlich. Die sechs neuen Systeme mit dem Typen-Zusatz LV (Low Voltage) decken die Leistungsklassen 20 und 32 kW ab. Die Geräte werden in Deutschland von Schulz-Electronic angeboten.
National Instruments präsentiert LabVIEW 201308. August 2013 – National Instruments stellt NI LabVIEW 2013 vor, die neue Version der Plattform für das grafische System-Design. Die Software bietet eine native Unterstützung der neuesten Hardware-Technologien von Anbietern wie ARM und Xilinx, darunter das in Hochleistungssystemen verwendete All Programmable SoC Zynq von Xilinx. Zudem soll laut NI eine höhere Zuverlässigkeit und bessere Qualität für komplexe Anwendungen dank Codeverwaltung, Dokumentation und Review-Werkzeugen erreicht werden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |