Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Federkontaktstifte für 2,54mm Rastermaß

Yamaichi ICT Spring Probe17. Dezember 2019 – Yamaichi Electronics erweitert das Portfolio der gefederten Pins für große Rastermaße. Bisher ist Yamaichi Electronics für hohe Präzision im Bereich der Halbleitertestsockel mit Kontaktstiftabständen von 0,25mm bis 1,27mm bekannt. Um die Anforderungen bei der Kontaktierung von bestückten Baugruppen in In-Circuit Tests (ICT) zu erfüllen, sind jetzt auch Federkontaktstifte für das Rastermaß von 2,54mm verfügbar.

Durch die Eigenfertigung der Pin-Spitzen können nahezu alle vorstellbaren Geometrien gefertigt werden. Derzeit ist ein Spektrum von über 30 verschiedenen Pinspitzenformen verfügbar.

Die Federkontaktstifte sind mit den gängigen am Markt verfügbaren Hülsen kompatibel.

www.yamaichi.eu/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Messtec & Sensor Masters 2020
verschoben auf 22./23. Sept. 2020
zur Terminübersicht...
SMTconnect 2020
Online-Veranstaltung
28. bis 30. Juli
zur Terminübersicht...
SINDEX 2020
01. bis 03. September
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px