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JTAG/Boundary Scan Erweiterung für TAKAYA Flying Prober
Bei dieser Kooperation geht es nicht nur darum, beide Prüfverfahren innerhalb einer einzelnen Teststation auszuführen. Vielmehr sollen beide Systeme durch eine tiefgreifende Interaktion voneinander profitieren und dem Anwender einen erheblichen, qualitativen Mehrwert für die gesamte Prüfstrategie bieten. So können beispielsweise die verfahrbaren Probes im Boundary Scan Test genutzt werden, um zusätzliche Testpunkte einzubeziehen. Daraus resultiert eine höhere Prüftiefe und eine detailliertere Diagnose. Die Verzahnung der Software beider Systeme sorgt dafür, dass beide Prüfverfahren in einem gemeinsamen Testplan verwaltet werden können und einen gemeinsamen Testreport generieren. „Schon seit langer Zeit kooperiert GÖPEL electronic mit TAKAYA als Hersteller des weltweit ersten Flying Probe Testsystems“, sagt Boris Opfer, Produktmanager, ICT Sales und Technical Services, SYSTECH Europe. „Wir greifen auf eine mehr als 30-jährige Expertise mit mehr als 2.000 installierten Systemen zurück. Mit GÖPEL electronic als Boundary-Scan-Pionier an unserer Seite bieten wir dem Kunden gemeinsam eine nachhaltige Prüfstrategie mit geringen Kosten.“ Das notwendige Hardware-Paket für die Integration besteht aus einem PCIe Boundary Scan Controller, einem TAP-Transceiver sowie einem I/O-Modul, welches mithilfe eines vorkonfigurierten Steckers mit den verfahrbaren Probes verbunden wird. Dieser Aufbau kann problemlos in bestehende Systeme integriert werden. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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