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Hierarchische Boundary Scan Tests bei Multi-Chip Modulen

04. März 2010 - Anlässlich der „Embedded World" stellt GÖPEL electronic neue Funktionen zur Unterstützung von hierarchischen Tests von Multi-Chip Modulen (MCM) im Rahmen für die Boundary Scan Softwarewareplattform SYSTEM CASCON^TM vor. Die weiterentwickelten Tools bieten einen bisher unerreichten Automatisierungsgrad bei der Generierung von Modul- und Board-zentrischen Boundary Scan Tests auf Basis hierarchischer Bibliotheksmodelle.

Den Kern der neuen Lösung bildet eine Weiterentwicklung der in SYSTEM CASCON^TM integrierten graphischen Bibliothekssektion. Sie ist jetzt in der Lage neben den bisher bereits unterstützten scanunfähige Komponenten und normalen Boundary Scan ICs, auch IEEE1149.1-fähige Multi-Chip-Module als System-in-Package (SiP) zu verwalten. Dabei können auch die SiP Modelle aus einem Mix von scanfähigen und scanunfähigen Chips oder Dice, montiert in einem Gehäuse bestehen.

Dieser neue Modelltyp enthält alle, zur eindeutigen Beschreibung des MCM notwendigen strukturellen und funktionalen Informationen, sowie eine Package und eine Constraints Sektion. Die Modelle sind voll portabel in andere Libraries und können darüber hinaus auch importiert und exportiert werden. Über entsprechende Formulargeneratoren ist auch eine interaktive Erstellung direkt in der Bibliotheksumgebung möglich.

Bei der Projekterstellung wird die Existenz entsprechender Multi-Chip Module auf dem Target automatisch erkannt und eine hierarchische Projektdatenbasis generiert. Dabei bleibt die Originalbeschreibung vollständig erhalten, sodass sämtliche Werkzeuge zur Automatischen Testprogramm Generierung (ATPG), zur Flash/PLD In-System Programmierung (ISP), zum graphischen Debugging, sowie zur automatischen Diagnose sowohl auf MCM-, als auch auf Board-Level uneingeschränkt genutzt werden können.

Höchste Sicherheit der Scanvektoren wird bei allen Prozessen durch die automatische Berücksichtigung der hierarchischen Constraints  garantiert. Aufgrund der vollständigen Unabhängigkeit der Modelle von der Target Unit Under Test (UUT) ist eine Datenhaltung entweder lokal auf der Arbeitsstation oder zentral in einem entsprechenden Server möglich.

Die neuen Features für hierarchische MCM Testung sind in der Boundary Scan Software SYSTEM CASCON^TM ab Version 4.5.2 standardmäßig bereits in der Plattform-Lizenz enthalten.