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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
PXI-basierter In-Circuit-Tester
Sämtliche klassischen Funktionen aus dem Komponententest werden von der integrierten ICT Softwareumgebung unterstützt, die als eigenständige Testapplikation mit Testsequenzer verfügbar ist. Daneben werden die Software-Umgebungen LabVIEW und TestStand sowie die Programmierung mit C/C++ unterstützt. Die KT-PXI-501 stellt somit ein komplettes Testsystem dar und kann in PXI-Systeme oder in System mit der PXI-Erweiterung ABex integriert werden. Mit dem neuesten LEON-System bietet Konrad Technologies eine effiziente Testlösung für den kombinierten Baugruppentest, inklusive In-Circuit-Test, Funktionstest und Boundary Scan Test, an. Ein herausragendes Merkmal ist die Möglichkeit bis zu 15 derartige embedded Tester parallel in einem ABex-Chassis zu betreiben, für maximale Performance im Baugruppentest. Im Vergleich mit dem Vorgängersystem wurde eine deutliche Steigerung in der Performance ermöglicht, z.B. mit bis zu 1000 Widerstandsmessungen pro Sekunde. Das LEON-Testsystem ist in unterschiedlichen Varianten konfigurierbar - von der kostengünstigen, ausschließlich auf PXI basierten Desktop-Lösung, über eine ABex-basierte Variante in 19“ Racks, bis hin zum High-End in-Line-System mit vollständig integriertem Tester und kabelloser Kontaktierung mit bis zu 2666 Testpunkten pro System. Als Switching-Lösungen werden Matrixkarten von Konrad-Technologies und National Instruments unterstützt, darunter die NI PXI-2532B und die schnelle KT-PXI-502 mit 128x4 Kanälen. Für den Einsatz im ABex-System stehen ein neues LEON-Terminalmodul mit einer 86x4 Matrix und die Hochleistungs-Matrix mit 172x4 Kanälen zur Verfügung. www.konrad-technologies.de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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