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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Programmierung und Test nichtflüchtiger Speicher in der Fertigung über Boundary Scan
Innerhalb des Systems kann die Programmierung mit Teststrategien wie Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments oder Funktionstest kombiniert werden. Eine signifikante Verbesserung stellen die neuen Features des FID-Moduls (Fixture Identification and Data) dar. Das intelligente System informiert den Nutzer über Service-Intervalle und Wartungshinweise des kundenspezifischen Adapters. Zusätzlich speichert das Modul Informationen von vergangenen Wartungszyklen zu einer Adapterhistorie. Daraus ergibt sich die Vermeidung von Pseudo-Fehlern durch mangelhafte Kontaktierung aufgrund abgenutzter Nadeln. Die intelligente Projektsteuerung schließt Bedienfehler bei manuellem Projektwechsel aus. Eine neu integrierte Re-Test Funktion sorgt für zusätzliche Effizienz in Programmier- und Testabläufen. Der Anwender kann dabei vorab eine Anzahl von Wiederholungszyklen bei nicht erfolgreichen Programmier- oder Testdurchläufen definieren. "Wir entwickeln die RAPIDO-Produktlinie unter den wachsenden Anforderungen unserer Kunden konstant weiter. In den komplexen Test- und Programmierprozessen bieten unsere Systeme noch flexiblere und einfachere Anpassung an individuelle Voraussetzungen", meint Alexander Beck, Team Manager Integration des Bereichs Boundary Scan bei GÖPEL electronic. "Wir arbeiten weiterhin aktiv daran, die Technologie des Embedded System Access (ESA) zu fördern. Diese wollen wir auch dem Teil unserer Kunden zugängig machen, welcher noch weniger erfahren in der ESA-Technologie ist. Unsere Komplettlösungen der RAPIDO-Serie sorgen für sicheres Projekthandling im Einsatz von kleineren Serien bis hin zur hochvolumigen Inline-Serienproduktion. Test und Programmierung können in einer Linie durchgeführt werden, damit spart der Kunde Zeit und Produktionskosten." Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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