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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Neue universelle Pin-Elektronik für Halbleitertest

10. November 2010 - Konrad Technologies präsentiert im Rahmen der electronica 2010 seine neue universelle Pin-Elektronik KT-TM-403 Dig50IO mit 20 parallelen Kanälen, die speziell für die Anforderungen im Mixed-Signal Test entwickelt wurde.

 

Die neue Pin-Elektronik hat Konrad Technologies speziell für das ebenfalls noch relativ neue Mixed-Signal Testsystem KT-7500 FINN entwickelt. Im Kern besteht dieses Instrument aus einer FlexRIO FPGA-Karte und einem komplexen Terminalmodul.

 

Das Instrument verfügt über folgende Hauptmerkmale:

  • Pinelektronik für 20 Kanäle parallel
  • 50 MHz digitale Pattern
  • 24mA aktive Last pro Pin
  • 4-Quadrant VI Source pro Pin
  • Stromquelle 200mA, -8Vbis +16V oder -1V bis +26V
  • Deskewing für Daten
  • anpassbare Slew Rate
  • Kalibrationsberechnung "OnChip "
  • Beliebige digitale Signale erzeugbar

Hochentwickelte Software-Tools, wie lokale Portsequenzer zur verteilten Echtzeitausführung lokaler Testsequenzen im FPGA, bzw. das neue Use-Case-Test-Modul unterstützen den Testingenieur bei der Umsetzung der Testspezifikation.

www.konrad-technologies.de


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