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Präzisions-DC Spannungs-/Stromquelle für Bauteiltests

26. Februar 2010 - Die neue Spannungs-/Stromquelle GS200 von Yokogawa zeichnet sich durch hohe Genauigkeit, Stabilität und Auflösung aus. Durch die exzellente Reproduzierbarkeit und eine 5½-stellige Auflösung erzeugt die GS200 sehr rauscharme DC Signale für Komponententests. Eine optionale Monitorfunktion erlaubt die gleichzeitige Messung von Spannungen und Strömen.

Die GS200 erzeugt DC Spannungen und Ströme bis ±32 V bzw. ±200 mA in 4 Quadranten (Verwendung als elektronische Last). Die garantierte Genauigkeit beträgt 0,016%, der Temperaturkoeffizient ist mit 8 ppm/°C spezifiziert, der Störpegel mit <100 uVs-s (alle Angaben bezogen auf den 10 V Bereich). Die Anzeige weist eine 5½-stellige Auflösung mit 120000 Digits auf. Die Eingabe der Sollwerte erfolgt entweder über eine 10-er Tastatur oder mit Auf-/Abtasten für jedes Digit.

Weitere wichtige Eigenschaften der Quelle/Senke sind ein Programmspeicher mit 10000 Punkten, eingebauter USB Massenspeicher und ein optionales Ethernet Interface. Standardmäßig sind IEEE-488 und USB Schnittstellen vorhanden. Mehrere Geräte können mit Synchron-Ein-/Ausgängen zu mehrkanaligen Systemen kaskadiert werden.

Die als Option erhältliche Monitorfunktion erlaubt das simultane Geben und Messen von Spannungen und Strömen mit 4½-stelliger Auflösung. Die Messwerte können zusammen mit den Geberwerten im internen USB Speicher abgelegt werden.

Das Gerät bietet eine unterbrechungsfreie bipolare Ausgangsfunktion, d.h. die Invertierung erfolgt ohne elektromechanische Umschaltung. Dadurch ist ein Test mit einem Nulldurchgang (z.B. Komparator) ohne Störsignale möglich. Innerhalb eines Geberbereiches entstehen beim Verändern der Werte auch keine Glitches, so dass der volle Bereich vom negativen bis zum positiven Maximum störungsfrei zur Verfügung steht.

Die Anwendungen der GS200 reichen von der Verwendung als Referenz-Spannungs- und Stromquelle bei automatischen Kalibrierungen, dem Test von optoelektronischen Komponenten (LED, organische EL Displays, etc.) durch die Charakterisierung mit U-I Kennlinien sowie die Lade- und Entlade-Simulation von Kleinakkus.