3-in-1-Taktmodul für Test von schnellen ICs

12. Juli 2012 – Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, stellt mit dem T2000 LJC16 16-Kanal, Low-Jitter-Taktmodul eine neue Produkterweiterung für die T2000 Testplattform vor. Advantest zeigt das LJC16-Modul, das unterschiedliche digitale Takte und analoge Takt/Sinussignale in einem einzigen für High-Multi-Site-Systeme kombiniert, während der vom 10.-12. Juli in San Francisco stattfindenden SEMICON West auf dem Stand #6247 (North Hall).

Durch die immer höheren Ein-/Ausgangs-Geschwindigkeiten (I/O) der heutigen digitalen und analogen ICs, werden auch die Taktanforderungen beim Test dieser Bauteile immer höher. Um eine möglichst hohe Fertigungsausbeute zu erreichen, werden für den Test von Halbleitern der neusten Generation folgende Anforderungen gestellt:

•             Quelle mit geringem Jitter von unter 500 Femto-Sekunden,

•             Taktsignale mit Gigahertz-Geschwindigkeiten,

•             programmierbare Tastverhältnisse und

•             sehr leistungsfähige Sinussignale als Eingangssignal für A/D-Wandler (ADCs).

Durch den Einsatz des neuen LJC16 Moduls von Advantest können alle notwendigen Tests mit einem einzigen Tool durchgeführt werden. Dies spart nicht nur Kosten, sondern reduziert auch die Zykluszeiten und ermöglicht eine höhere Testabdeckung mit einem einzigen Modul.

"Mit diesem neuen 3-in-1-Modul wird unsere T2000-Plattform zum wirtschaftlichsten und leistungsfähigsten System für den Test sehr schneller Digital- und Mixed-Signal-Bauteile, wobei es eine höchste Jitter-Performance bietet", sagte Jay Sakamoto, Senior Vice President der Strategic Business Unit (SBU) von Advantest. "Diese Lösung ist kostengünstiger und vielseitiger als andere derzeit verfügbare Highend-Tester, die mehrere Module benötigen oder unvollständige Testlösungen darstellen, da schnelle digitale Pins und Quellen mit geringem Jitter fehlen."