Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Details

PXI-Oszilloskop mit 14-bit-Auflösung und 1 GS/s Abtastrate

28. Oktober 2016 – National Instruments (NI) stellt das Oszilloskop PXIe-5164 vor, das auf der offenen, modularen PXI-Architektur basiert und einen programmierbaren FPGA beinhaltet. Es eignet sich insbesondere für das Messen hoher Spannungen mit einer hohen Genauigkeit bei Anwendungen aus den Bereichen Luft- und Raumfahrt, Halbleitertechnik sowie Forschung und Physik.

„Die PXI-Oszilloskope von NI ermöglichen kürzere Prüfzeiten und eine höhere Kanaldichte und bieten jetzt dank der hohen Bandbreite, Auflösung und Eingangsspannung eine noch größere Flexibilität“, so Steve Warntjes, Vice President R&D bei NI. „Mit unserem neuen Oszilloskop PXIe-5164 lassen sich nun auch Messungen durchführen, die mit Stand-alone-Messgeräten bisher nicht möglich waren. So können bei der Messung von Spannungssignalen bis 100 Vpp mit bis zu 1 GS/s dank des 14-bit-A/D-Wandlers jetzt auch kleinere Signalbestandteile sichtbar gemacht werden, die normalerweise durch das Rauschen des Messgeräts überlagert werden.“

Das PXIe-5164 bietet folgende Funktionen:

• Zwei 14-bit-Kanäle mit einer Abtastrate von 1 GS/s und 400 MHz Bandbreite
• Zwei Kanäle mit einem Spannungseingangsbereich von bis zu 100 Vpp CAT II und programmierbarer Offset-Funktion für Messungen bis ± 250 V
• Bis zu 34 Kanäle in einem einzelnen kompakten PXI-Chassis für die Erstellung paralleler Messsysteme mit hoher Kanaldichte
• Eine Streaming-Datenrate von 3,2 GB/s über 8 PCI-Express-Leitungen (Lanes) der 2. Generation
• Ein mit LabVIEW programmierbarer Kintex-7-410-FPGA von Xilinx zur Erstellung von benutzerspezifischem IP, u. a. Filter und Trigger (Inline Processing)

PXI-Oszilloskope bieten eine ähnlich einfache Handhabung, wie Stand-alone-Oszilloskope. Über die interaktiven Soft-Frontpanel des mitgelieferten Treibers NI-SCOPE lassen sich beispielsweise einfache Messungen durchführen, automatisierte Anwendungen auf Fehler untersuchen und erfasste Oszilloskopdaten anzeigen, während das Prüfprogramm läuft. Der Treiber umfasst zudem Hilfedateien, Dokumentation und sofort ablauffähige Beispielprogramme, die Anwender bei der Entwicklung von Prüfcode unterstützen. Ferner stellt der Treiber eine Programmierschnittstelle zur Verfügung, die mit verschiedenen Entwicklungsumgebungen kompatibel ist, u. a. C, Microsoft .NET und der Systemdesignsoftware LabVIEW. PXI-Oszilloskope können auch mit der Testmanagementsoftware TestStand eingesetzt werden, um die Entwicklung und den Einsatz von Prüfsystemen im Labor oder in der Produktion zu vereinfachen.

www.ni.com/