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RF-Vektorsignalanalysator im PXI-Format

24. Februar 2011 - National Instruments stellt mit dem NI PXIe-5665 einen RF-Vektorsignalanalysator (VSA) bis 3,6 GHz im PXI-Formfaktor vor. Zu den Eigenschaften des Analysators zählen überragende Werte beim Phasenrauschen, beim mittleren Rauschpegel, bei der Amplitudengenauigkeit und beim Dynamikbereich. Aufgrund der PXI-Plattform des Vektorsignalanalysators ist zudem Peer-to-Peer-Streaming möglich.

Außerdem kann eine flexible MIMO-Architektur (Multiple Input, Multiple Output) für phasenkohärente Messungen erstellt werden. Der VSA bietet Messgeschwindigkeiten, die mindestens um den Faktor fünf höher sind als bei traditionellen Stand-alone-Messgeräten. All diese Merkmale sorgen dafür, dass sich der VSA besonders für anspruchsvolle automatisierte RF-Prüfsysteme eignet.

„Der Vektorsignalanalysator NI PXIe-5665 ist nicht nur das Messgerät mit dem höchsten Leistungsvermögen seiner Klasse, sondern auch günstiger als herkömmliche Stand-alone-Messgeräte", so Phil Hester, Senior Vice President für Forschung und Entwicklung bei National Instruments. „Da unser neuer PXI-RF-Analysator Spitzenleistung mit modularer Flexibilität in einem kompakten Paket mit gutem Preis-Leistungs-Verhältnis verbindet, können Ingenieure jetzt dasselbe Messgerät vom Design bis zur Fertigung nutzen."

Der VSA kombiniert den neuen Down-Converter NI PXIe-5603 mit dem lokalen Oszillator NI PXIe-5653 und dem NI PXIe-5622, einem Digitizer (Digitalisieren der Zwischenfrequenz, ZF) mit einer Abtastrate von 150 MS/s. Diese Kombination schafft eine ideale Lösung für Messungen von Spektrum- und Breitbandvektorsignalen über einen Frequenzbereich von 20 Hz bis 3,6 GHz mit Bandbreiten von bis zu 50 MHz. Der VSA weist ein äußerst niedriges Phasenrauschen von -129 dBc/Hz (bei 800 MHz und 10 kHz Offset), einen mittleren Rauschpegel von -165 dBm/Hz, IP3 von +24 dBm und eine absolute Amplitudengenauigkeit von ±0,10 dB auf. Dank dieser Spezifikationen gehört der NI PXIe-5665 zu den besten Messgeräten seiner Klasse.

Für die Analyse modulierter Signale ermöglicht das integrierte Werkzeug für die Selbstkalibrierung eine ZF-Amplitudengenauigkeit von ±0,15 dB und eine ZF-Phasenlinearität von ±0,1 Grad. Diese Genauigkeit sorgt für eine außergewöhnliche EVM-Leistung von unter 0,21 Prozent für ein 256-QAM-Signal. Aufgrund der flexiblen, modularen Architektur des Analysators sind eine phasenkohärente Erfassung für MIMO-Tests, eine Abtastrate von 20 GHz/s sowie Peer-to-Peer-Streaming zur effizienten Spektrumüberwachung möglich. Des Weiteren besitzt der NI PXIe-5665 eine RF-List-Mode-Funktion, mit der auf dem Gerät selbst eine Liste von Konfigurationen und Messaufgaben hinterlegt werden kann. Diese Messungen mit zugehörigen Konfigurationen können durch externe Trigger gestartet werden. So lassen sich Messungen, bei denen eine Vielzahl an Pegel- und Frequenzkombinationen geprüft werden muss (z. B. Kalibrierung von GSM oder WCDMA), erheblich schneller durchführen.

Da sich der NI PXIe-5665 in ein Produktangebot von über 1.500 softwaredefinierten modularen PXI-Messgeräten einreiht, können Anwender den Vektorsignalanalysator mit einer Vielzahl an Modulen einsetzen und ein komplettes automatisiertes Prüfsystem mithilfe der Software für das grafische Systemdesign NI LabVIEW steuern. Das ist eine ideale Voraussetzung für den Einsatz von PXI-Systemen in zahlreichen automatisierten Prüfanwendungen. Die softwaredefinierte Leistung des VSA kann auch zusammen mit RF-Software-Toolkits für LabVIEW, NI LabWindows/CVI und .NET genutzt werden, um die neuesten Standards der RF- und Wireless-Kommunikation wie GSM/EDGE, WCDMA, LTE, WLAN und WiMAX zu testen.