|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-Test
Handler für den Test von Speicher-ICs02. Dezember 2014 - Advantest stellt den neuen Testhandler M6245 vor, der sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit auszeichnet und ideal für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet ist. Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit verbessert. Dadurch eignet sich das System auch für Speicher mit sehr feinem Pitch. Das neue Handling-Design des M6245 gewährleistet durch die optische Ausrichtung bei Fine-Pitch-Bauteilen einen maximalen Durchsatz. Zudem ermöglicht das Design auch bei einer mechanischen Ausrichtung von Bauteilen mit konventionellem Pitch einen höchstmöglichen Durchsatz. Die hoch genaue Ausrichtung erlaubt zudem eine schnellere Einrichtung und Kalibrierung, was ebenfalls zur Steigerung der Systemproduktivität beiträgt. Die Produktivität wird durch die hohe Automatisierung des neuen Handlers maximiert. Halbleiter-Bauteile werden nach einem ersten Test automatisch erneut getestet, um den Arbeitsaufwand des Bedienpersonals zu reduzieren gleichzeitig aber die höchstmögliche Ausbeute sicherzustellen. "Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation. Durch den Einsatz der neuen thermischen Technologie “Dual-Fluid Design" von Advantest kann die Temperatur jedes einzelnen zu prüfenden Bauteils im gesamten Bereich von -20°C bis 100°C auf ±1°C genau gehalten werden. Die Temperaturgenauigkeit in den Bereichen -40°C bis -20°C und 100°C bis 125°C liegt bei ±2°C. Dies erlaubt eine hoch genaue Prüfung von Memory-ICs, die für einen weiten Temperaturbereich spezifiziert sind. Das System enthält auch das neue Advantest Handler Data Visualization Framework, das eine Echtzeit-Überwachung der Testzelle über eine Internet-Verbindung ermöglicht. Die Auslieferung der M6245 Handler soll ab dem ersten Quartal des Kalenderjahres 2015 beginnen. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |