High-Speed Speicher-Testsystem mit Testgeschwindigkeit von 8 Gbps

18. Mai 2012 – Advantest stellt sein High-Speed DRAM-Testsystem T5511 der nächsten Generation vor, das ab diesem Monat erhältlich ist und die derzeit höchste Testgeschwindigkeit von 8 Gbps bietet. Es wurde speziell für den Test von DRAMs entwickelt. Die inzwischen allgegenwärtige DRAM-Technologie entwickelt sich schnell weiter; zudem gibt es hinsichtlich Geschwindigkeit und Funktionen je nach Anwendungsbereich vielfältige Varianten.

Die ultraschnellen GDDR5-SDRAM-Chips für Grafik-Anwendungen benötigen Funktionen wie Clock-Training und CRC (Cyclic Redundancy Check), um die Zuverlässigkeit und hohe Geschwindigkeit sicherzustellen. Inzwischen erreichen die DDR4-SDRAM für Server und Clients bald die doppelte Bandbreite der sonst gängigen DDR3-SDRAM und die gleiche Funktionalität wie GDDR5. Im Mobile- und Grafikbereich sind Busbreiten von x32 und x64 mittlerweile üblich und in naher Zukunft werden wohl Wide I/O DRAMs mit einer 256 Bit breiten Schnittstelle standardisiert.

Durch die unterschiedlichen Anforderungen der Endanwendungen erfordert die Entwicklung der DRAM-Technologie optimale Testlösungen, die für alle neuen Bauteilgenerationen und Anwendungen geeignet sind. Auf Grund der Kosten kommt nur eine Ein-Plattformlösung in Frage, die verschiedene Arten von DRAM unterstützt und flexibel von der Forschung und Entwicklung (R&D) bis hin zur Fertigung hoher Stückzahlen eingesetzt werden kann.

Produktmerkmale des High-Speed Memory Test Systems T5511

Höchste 8 Gbps Testgeschwindigkeit und Timing-Genauigkeit von ±40 ps

Mit einer maximalen Testgeschwindigkeit von 8 Gbps ist der T5511 der derzeit weltweit schnellste Memory-Tester, der über ausreichend Reserven für die sehr schnellen GDDR5-SDRAM-Bauteile verfügt. Da alle Test-Pins des Systems 8 Gbps unterstützen, ist bei Hochgeschwindigkeitstests keine Reduzierung der Parallelität erforderlich.

Integrierte Takt-Training-Funktionalität

Die für den Test der neuen DDR4-SDRAM- und GDDR5-SDRAM-Bauteile benötigte Takt-Training-Funktionalität ist in der Hardware des T5511 enthalten. Dies erlaubt einen höheren Durchsatz, was mit einer entsprechenden Software-Funktion nicht möglich ist.

Einfachere Testprogrammerstellung

Der T5511 beinhaltet auch einen Hardware-Generator für CRC-Code, der für den Test der leistungsfähigen DDR4-SDRAM- und GDDR5-SDRAM-Bauteile notwendig ist. Die dedizierte Hardware generiert automatisch CRC-Codes, was dem Testingenieur Arbeit abnimmt und die Erstellung von Testprogrammen vereinfacht.

Darüber hinaus arbeitet der T5511 mit dem Tester-Betriebssystem "Future Suite" von Advantest, das eine Nutzung der umfassenden Programm-Bibliothek für die Testsysteme der Serie T55xx erlaubt.

"Lab to Fab" Flexibilität

Die Systemkonfigurationen reichen von 384 Pins für den R&D-Einsatz bis hin zu maximal 6.144 Pins für eine Fertigung mit hohen Stückzahlen. Durch die flexible "Lab to Fab" Konfigurierbarkeit des T5511 lässt sich die Investition auf ein Minimum reduzieren, während eine höchste Testeffizienz erreicht wird.

Technische Daten:

Zielbauteile:                                      DDR4-SDRAM, GDDR5-SDRAM

Parallele Testkapazität:                                256 (x8 I/O)

Maximale Testgeschwindigkeit:               4 GHz / 8 Gbps