|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestNI präsentiert neues Logo und visuelles Erscheinungsbild01. Juli 2020 - National Instruments (NI) frischt seine Markenidentität auf, die ein neues Logo, eine neue visuelle Identität, eine verbesserte digitale Erfahrung und eine Markenkampagne umfasst. Der neue Slogan „Engineer Ambitiously“ soll zudem das Engagement von Entwicklern und Unternehmen würdigen. NI will Menschen, Ideen und Technologien miteinander verknüpfen, die unsere Welt vorantreiben. Um die Erfolgsgeschichten derer zu teilen, die höhere Ziele verfolgen und wachsen wollen, hat NI außerdem „Perspectives“ ins Leben gerufen. „Im Mittelpunkt von NI steht unser Engagement, Entwicklern bei der Lösung der Probleme von heute, morgen und den nächsten 100 Jahren zu helfen“, erklärte Carla Piñeyro Sublett, CMO bei NI. „Unsere Kunden prägen die Welt. Sie inspirieren uns mit brillanten Lösungen und Neuerungen, die sich auf unseren Planeten und darüber hinaus auswirken. Unsere neue Markenidentität spiegelt ihre Geschichte wider und ist eine Erinnerung und Würdigung ihrer Beiträge zur Gesellschaft und ihrer Fähigkeit, Außergewöhnliche zu schaffen.“ Seit mehr als vier Jahrzehnten arbeitet NI mit Entwicklern und Unternehmen zusammen, um mithilfe von Test- und Messtechnik die dringendsten Herausforderungen zu lösen. Von der Daten- und Automatisierungstechnik über Forschung, Entwicklung und Validierung hilft der softwaregestützte Ansatz von NI den Kunden, Neuerungen schneller, zuverlässiger und sicherer zu testen. www.ni.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |