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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestATE Core Configurations als Basis für automatisierte Prüfsysteme14. Juni 2017 – National Instruments (NI) stellt neue ATE Core Configurations vor, die grundlegende mechanische Infrastrukturen, Stromversorgung und Sicherheitsvorrichtungen für 19-Zoll-Racks umfassen. Damit lassen sich automatisierte Prüfstände (Automated Test Equipment, ATE) für unterschiedliche Bereiche, u. a. Halbleitertechnik, Unterhaltungselektronik, Luft- und Raumfahrt und den Automobilsektor, schneller entwickeln und einsetzen. Mit den ATE Core Configurations steht Anwendern eine komplette Standardisierungsplattform zur Verfügung, die den Entwurf, die Beschaffung, die Montage und den Einsatz intelligenter Testsysteme vereinfacht, Kosten senkt und eine schnellere Markteinführung begünstigt. Die Rackkonfigurationen sind in zwei Rackhöhen und mit verschiedenen Leistungsprofilen für unterschiedliche Anwendungsanforderungen und geografische Regionen erhältlich. Außerdem bieten sie integrierte Sicherheitsvorrichtungen wie thermische Schutzschalter, Not-Aus-Schalter und unterbrechungsfreie Stromversorgung (USV, optional) und sind nach IEC 61010 zertifiziert. Wichtige Vorteile der ATE Core Configurations:
„Die Erstellung eines Prüfsystems ist eine schwierige Aufgabe, die selbst bei den besten Unternehmen mehrere Monate dauern kann, was in erster Linie an der Vielzahl der Komponenten und Hersteller sowie den daraus resultierenden Interoperabilitätsproblemen liegt“, so Luke Schreier, Director of Automated Test Product Marketing bei NI. „Die neuen ATE Core Configurations vereinfachen den Bestellvorgang für grundlegende Systemkomponenten und ermöglichen eine schnellere und kostengünstigere Systemerstellung. Für schlüsselfertige Systeme steht zudem unser Netzwerk an Alliance Partnern mit umfassendem Integrations-Know-how zur Verfügung.“ Die ATE Core Configurations profitieren von leistungsstarker PXI-Messtechnik und dem umfangreichen Portfolio an Prüfsoftware von NI. Dazu gehören mehr als 600 PXI-Produkte – von DC bis zum mm-Wellen-Bereich. Diese unterstützen durchsatzstarke Datenübertragungen über PCI-Express-Schnittstellen der 3. Generation. Darüber hinaus ermöglichen sie die Synchronisierung im Sub-Nanosekundenbereich und bieten integrierte Timing- und Triggerfunktionen. Die ATE Core Configurations sind auch mit der Testmanagementsoftware TestStand und der Software LabVIEW für die Entwicklung von Testsequenzen erhältlich und bieten umfassende Unterstützung für APIs und Beispielprogramme für PXI-Messtechnik sowie für mehr als 13.000 Treiber für Stand-alone-Messgeräte von Drittanbietern. www.ni.com/ Weitere News zum Thema: |
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