|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestBauteilprogrammierung über serielle Protokolle30. Juni 2010 - JTAG Technologies hat sein Produkt-Portfolio um Bauteil-Programmierlösungen für verschiedene serielle Bussysteme erweitert, wie beispielsweise SMBus, SPI, I2C und MicroWire. Unter der Bezeichnung Serial Controlled IC Programmer (SCIP) präsentiert JTAG Technologies verschiedene Lösungen für die In-System-Programmierung von Bauteilen.
Viele hochintegrierte Mikroprozessoren, DSPs und CPLDs nutzen inzwischen den JTAG (IEEE Std. 1149 oder 1532) Test Access Port als Schnittstelle zur Programmierung des internen Flash-Speichers. Allerdings arbeiten einige Bauteile bei der Kommunikation mit nicht standardmäßigen Befehlen und Protokollen. Darüber hinaus nutzen meist kleinere Bauteile eine ganz andere physikalische Schnittstelle, die oft weniger Pins als die vier oder fünf Pins des standardmäßigen Boundary Scan TAPs aufweist. JTAG Technologies hat seine bestehende 'SCIL' (Scan Configurable Interface Logic) Produktpalette um weitere Module ergänzt, die auch eine Anpassung bestehender Hardware erlauben, so dass diese unterschiedliche Programmierschnittstellen unterstützt. Die neuen SCIL-Module sind als 'austauschbare' Schnittstellen verfügbar, mit denen sich JTAG DataBlaster-Hardware (z.B. JT 37x7 oder JT 3710) in einen Protokoll-spezifischen Bauteil-Programmierer oder Tester verwandeln lässt. www.jtag.comWeitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |