Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

All-in-One-Testset für Evaluierungen optischer Mehrkanalmodule

Anritsu MP2100B13. Oktber 2015 – Anritsu stellt mit dem BERTWave MP2100B ein All-in-One-Testset mit integriertem Bitfehlerraten-Tester (BERT) und Sampling-Oszilloskop zur Entwicklung und Fertigung optischer Module vor. Der MP2100B ist der Nachfolger von Anritsus populären MP2100A und ermöglicht eine noch effizientere Evaluierung optischer Mehrkanalmodule.

Der neuentwickelte BERTWave MP2100B unterstützt die zeitgleiche Durchführung von Bitfehlerraten-Messungen (BER-Messungen) und Augendiagramm-Analysen (Eye Pattern Analyses). Somit kann man also mit einem einzigen MP2100B-Testset sämtliche Parameter messen, die für eine Evaluierung optischer Module und optischer Bauelemente, wie sie in optischen Datenübertragungssystemen eingesetzt werden, erforderlich sind.

Im Unterschied zu herkömmlichen Systemen für Bitfehlerraten-Messungen und Augendiagramm-Analysen, bei denen zwei separate Messgeräte benötigt werden, genügt nur ein MP2100B, der alle erforderlichen Testfunktionen unterstützt. Dadurch lassen sich die Ausrüstungskosten um 40% zu senken. Darüber hinaus wird das neue Gerät durch die Ergänzung eines optischen Schalters und eines optischen Abschwächers als optionales Zubehör zu einer umfangreich ausgestatteten vollständigen Messlösung für die Evaluierung optischer Mehrkanal-Module und optischer Geräte.

Um höhere Messgeschwindigkeiten zu unterstützen, wie sie von den Fertigungsmärkten optischer Module und optischer Bauelemente gefordert werden, führt ein neuer Schnellabtastmodus mit Geschwindigkeiten von bis zu 150 ksample/s Augendiagramm-Analysen, wie den Augenmaskentest (Eye Mask Test), bis zu 1,5 Mal schneller aus, als vorhandene Vorgängermodelle. Zudem kann der in den MP2100B integrierte Bitfehlerraten-Tester auf vier Kanäle erweitert werden, um zeitgleich Bitfehlerraten-Messungen an optischen Mehrkanalmodulen, wie beispielsweise QSFP+, vornehmen zu können. Dadurch werden, verglichen mit den Messzeiten bei Vorgängermodellen, die Messzeiten um bis zu 80 % verkürzt.

www.anritsu.com/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...
Intersolar Europe
19. bis 21. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung