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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestFlexibler Handler integriert Testprozesse in automatische Fertigungslinien21. April 2015 - IPTE zeigt auf der SMT in Nürnberg den neuen Easy-Test-Handler ETH, mit dem sich In-Circuit- und Funktionstest- sowie Programmierprozesse inline automatisieren lassen. Der ETH eignet sich für den Einsatz mit Einzel-Leiterplatten, Leiterplatten-Nutzen oder entsprechenden Werkstückträgern für Leiterplatten. Es können ein- oder beidseitige Kontaktierungen realisiert werden, zudem lassen sich die Kontaktierungsadapter einfach und schnell tauschen. Optional kann der Testhandler mit einem Bypass-Bandsegment ausgerüstet werden, um mehrere Testhandler parallel zu betreiben. Dies erlaubt einen kontinuierlichen Produktionsverlauf, so dass der laufende Testvorgang den Produktionsfluss nicht blockiert. Der Bypass kann zudem zur Optimierung der Taktzeit eingesetzt werden. Der IPTE Easy-Test-Handler ETH ist eine wirtschaftliche Testlösung mit geringem Platzbedarf. Er lässt sich einfach in ein automatisiertes SMEMA-kompatibles Testumfeld integrieren und bietet ausreichend Platz für 19 Zoll-Test-Equipment (10 HE). Das integrierte LC-Touch-Display erlaubt den Zugriff auf alle erforderlichen Parameter für die Programmierung der Testabläufe. IPTE ist auf der vom 5. bis 7. Mai 2015 in Nürnberg stattfindenden Fachmesse SMT auf dem Stand von CheckSum in Halle 7A, Stand 421, zu finden. Weitere News zum Thema: |
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