|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestKontaktstifte für schwierige Bedingungen18. April 2011– Für die schwierige Kontaktierung von bleifreien Lötpads und stark verunreinigten oder oxidierten Leiterplatten hat FEINMETALL eine spezielle Kontaktstift-Serie entwickelt. Stifte dieser „Progressive Series“ erzielen eine deutlich höhere Lebensdauer und Kontaktsicherheit als herkömmliche Kontaktstifte. Wegen der großen Nachfrage erweitert FEINMETALL diese Serie nun um weitere Varianten. Neben den Standardstiften F050, F075 und F100 sind ab sofort auch die entsprechenden Langhub-Varianten für 75 und 100 mil als „Progressive Series“ Stifte erhältlich. Für stärkere mechanische Belastungen bietet FEINMETALL auch die robusteren Stifte F772 und die zugehörigen Langhub-Varianten in dieser speziellen Serie an. „Progressive Series“ Stifte zeichnen sich durch einen speziellen Längsschliff und eine Funktionsbeschichtung aus. Dadurch sind sie wesentlich weniger anfällig für Verunreinigungen als Stifte mit Standardschliff und marktüblicher Goldbeschichtung. Zusätzlich sorgt eine erhöhte Vorspannung der Feder dafür, dass unmittelbar bei der Kontaktierung des Prüflings eine stärkere Kraftwirkung realisiert wird als mit vergleichbaren Standardstiften. So können Verunreinigungen besser durchdrungen werden. Wegen des flacheren Kennlinienverlaufes der Feder bleibt die Federkraft bei Nenn-Hub jedoch unverändert gegenüber herkömmlichen Kontaktstiften, so dass auch bei Prüfadaptern mit höherer Anzahl von Testpunkten kein Kraftproblem entsteht. Insgesamt bieten die „Progressive Series“ Stifte bei der Kontaktierung von verunreinigten oder oxidierten Leiterplatten eine höhere Performance und Lebensdauer als herkömmliche Kontaktstifte. Immer mehr Anwender stellen ihre gesamten Prüfadapter deshalb komplett auf „Progressive Series“ Stifte um. www.feinmetall.deWeitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |