|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestPrettl Electronics übernimmt Spectral Electronic Prüf- und Messtechnik Berlin02. September 2014 - Die Spectral Electronic Prüf- und Messtechnik GmbH Standort Berlin wurde im Juni von dem Fertigungsdienstleister Prettl Electronics AG übernommen und firmiert nun als Prettl Electronics Test Solutions GmbH. Durch die Übernahme erweitert die Prettl Electronics AG ihre Kernkompetenzen um die Bereiche Prüfmittelbau, Prüfmitteldesign und Erstellung von Testkonzepten sowie kompletten Testadaptionen.
GÖPEL electronic veranstaltet 13. Inspection Days29. August 2014 - GÖPEL electronic lädt am 24. und 25. September 2014 zum Anwender- und Interessententreffen ein, diesmal unter dem Sternenhimmel des Zeiss-Planetariums in Jena. Teilnehmer können sich austauschen und informieren über neueste Trends und Entwicklungen der automatischen Inspektion. Neben interessanten Informationen zu Anforderungen der Elektronikfertigung an die Prüfverfahren berichten Anwender über den Einsatz der Inspektionstechnologien in ihren Unternehmen. Modulare HiL-Testplattform zur ECU-Absicherung25. August 2014 - Die zur Assystem Gruppe gehörenden Unternehmen Silver Atena und Berner & Mattner stellen das neue Testsystem ANCONA zur ECU-Absicherung vor. ANCONA ist eine modular aufgebaute Plattform, mit der sich auch die komplexesten Testumgebungen kurzfristig und mit geringem Aufwand realisieren lassen. Sie ist auf die spezifischen Anforderungen der Automobilindustrie abgestimmt. Die anpassungsfähige, multifunktionale Erfassung von ECU-Schnittstellen verbindet Flexibilität mit einfacher Handhabung. Dank dieser Struktur ist der schnelle und mit geringem Kostenaufwand verbundene Einsatz in den verschiedensten Domänen möglich. HIL-Simulation für Multiprozessor-Systeme20. August 2014 - Die SCALEXIO Hardware-in-the-Loop (HIL)-Technologie von dSPACE ist durch die neue Erweiterung für Multiprozessor (MP)-Simulationsplattformen nun noch leistungsstärker. Mit der MP-Erweiterung können Anwender mehrere SCALEXIO-Multi-Core-Processing-Units zu einer leistungsstarken Simulationsplattform für Echtzeitberechnungen verbinden.
Viscom Closed Loop jetzt auch für Panasonic-Equipment19. August 2014 - Die Closed Loop Schnittstelle von Viscom ist jetzt auch für Drucker und Bestücker von Panasonic erfolgreich implementiert und nach ausführlichen Tests freigegeben. In enger und guter Zusammenarbeit haben beide Unternehmen einen geschlossenen Regelkreis zwischen Lotpasteninspektion (SPI) und Drucker sowie als Forward-Lopp zum Bestücker geschaffen. So kann der Druckprozess hinsichtlich Versatz, Volumen etc. überprüft, ausgewertet und sofort optimiert werden.
Hitex schließt Vertriebsabkommen mit YOGITECH18. August 2014 - Hitex Development Tools GmbH und das italienische Unternehmen YOGITECH SPA haben eine Vertriebsvereinbarung unterzeichnet. Mit dieser Vereinbarung übernimmt Hitex in der DACH-Region sowie weiteren europäischen Ländern den Vertrieb der Software-Bibliotheken fRSTL (fault Robust Software Test Libraries).
Trigger- und Decoder-Lösung für CAN Flexible Data (FD) Rate18. August 2014 – Teledyne LeCroy präsentiert die erste CAN Flexible Data (FD) Rate Trigger- und Decoder-Lösung als Erweiterung der bereits bestehenden Testlösungen für CAN, LIN, FlexRay, SENT, MOST und BroadR Reach. Der CAN FD Trigger und Decoder bietet Entwicklungsingenieuren einen bisher nicht möglichen Einblick in ihre Systeme durch die korrelierte Darstellung der physikalischen und logischen Ebene eines Signals in einer einzigen Anzeige. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |