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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestOptische Inspektion großer Baugruppen ohne perspektivische Verzerrungen24. September 2010 - Der Willicher AOI-Experte modus high-tech electronics hat eine Speziallinse für die Parallelprojektion von zu inspizierenden Objekten mit einer Größe bis DIN A2 entwickelt. Sie ermöglicht deren vollständige Abbildung für den Prüfvorgang - maßstabsgetreu ohne perspektivische Verzerrungen oder Verdeckungen durch höhere Baugruppenelemente. Kostengünstiger In-Circuit-Tester für kleine und mittlere Losgrößen23. September 2010 - Fehlende Bauteile, Kurzschlüsse, Unterbrechungen, schlecht oder gar nicht gelötete Bauelemente: Mit dem neuen In-Circuit-Testsystem TI²GER I von Schneider & Koch Ingenieurgesellschaft mbH, Bremen, steht ab sofort ein leistungsstarker und gleichzeitig kostengünstiger In-Circuit-Tester in Form einer kompakten Tischlösung zur Verfügung. Fernsteuerbares Mess- und Lastmodul für den Test von Steuergeräten21. September 2010 - Mit der über CAN fernsteuerbaren Baugruppe TC-LMC der SMART Electronic Development GmbH lassen sich nahezu alle Last- und Fehlersimulationszustände für Steuergerätepins abbilden. Das TC-LMC findet seinen Einsatz vor allem beim Hardware-Test von Baugruppen und Steuergeräten. Funktionsprüfung von Bedienteilen20. September 2010 - MCD Elektronik GmbH hat ein Funktionstestsystem für Bedienteile mit visueller Kontrolle entwickelt. Das Testsystem besteht aus einem 16HE Steuerungs-Messturm und zwei schwenkbaren Rundschalt-Adaptern und ermöglicht eine Prüfung von Display-Bedienteilen. Boundary Scan On-Board Teststeuerung für Debugging und Reparatur08. September 2010 - JTAG Technologies präsentiert ein neues Support-Paket für Baugruppen- und Systementwickler, die einen einfachen BIT-Zugang (Built-in Test) für den Boundary Scan Test und die On-Board (Um)-Programmierung implementieren möchten. Temperiertes Testen von Elektronikbaugruppen06. September 2010 - Durch den Einsatz von Thermoboxen als Werkstückträger und von Paternoster-Modulen bietet die hatec GmbH, Bad Aibling, jetzt ein völlig neues, hocheffizientes Konzept für das temperierte Testen von Elektronikbaugruppen in der Serienfertigung. Tunneldurchlaufanlagen oder das aufwendige Beschicken von Temperierschränken entfallen, die Anlage ist modular und kann individuell - auch nachträglich - an jede Fertigungsgröße angepasst werden, vom Einzelmodul bis zur Großanlage. Testsysteme zur Absicherung der Fehlersicherheit von KFZ-Steuergeräten01. September 2010 - Der Fail Save Tester der SMART Electronic Development GmbH basiert auf einem Baukastensystem und ermöglicht dem Anwender auf allen Pins des Prüflings unterschiedliche Fehler anzuschalten und die Reaktion des Steuergeräts zu bewerten. Das Erfassen der Reaktion erfolgt je nach Fehlerart und Ausprägung durch das Messen von Signalgrößen und das Auslesen des Fehlerspeichers über ein Diagnosetool. Weitere Beiträge ...
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