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Boundary Scan
Whitepaper, Anwenderberichte und Fachartikel zum Thema Boundary Scan Test (auch bekannt als IEEE 1149.x, JTAG).
- Kurzbeschreibung:
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Dieser Beitrag analysiert den derzeitigen Stand der Boundary Scan Technologie (JTAG, IEEE 1149.1), gibt Hilfestellung bei der systematischen Einordnung verfügbarer Lösungen und vermittelt einen Ausblick auf die Zukunft dieses innovativen Verfahrens.
- Letzte Änderung:
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09 Jan 2011
- Dateigröße:
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4,277.77 Kb
- Dateiautor:
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Goepel electronic GmbH
- Kurzbeschreibung:
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JTAG/ Boundary Scan ist ein geniales elektrisches Testverfahren, es kommt mit vier Steuerleitungen und einigen „Design For Testability“ Regeln aus!
- Letzte Änderung:
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24 Feb 2011
- Dateigröße:
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206.25 Kb
- Dateiautor:
-
GOEPEL electronic GmbH
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