Hochgeschwindigkeitstest von High Brightness LEDs Download

Beschreibung:

Der Test von LEDs erfordert unterschiedliche Arten von Testfolgen in den einzelnen Produktionsstufen, wie in der Forschung und Entwicklung, bei On-Wafer-Messungen während der Produktion oder beim Endtest der Bauteile im Gehäuse. Dieser Artikel erklärt die wie die Charakterisierung von Dioden erfolgen kann und sich die hierzu benötigten Testaufbauten realisieren lassen. Außerdem wird aufgezeigt, wie sich durch den Einsatz neuer Testtechnologien ein hoher Durchsatz erreichen und die Testkosten reduzieren lassen.

Dateigröße:

769.45 Kb

Dateiautor:

Keithley Instruments GmbH