Elektrisches Verfahren bei dem über wenige serielle Ports (TCK, TDI, TDO und TMS beim klassischen IEEE 1149.1) eine Überprüfung der Verbindungen innerhalb der Schaltung ermöglicht wird. Setzt allerdings Bauteile mit integrierter Boundary Scan Funktionalität voraus. Durch Erweiterungen ist mittlerweile auch eine In-System-Programmierung von Speicherbauteilen und ein Test serieller, digitaler High-Speed Verbindungen möglich.