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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Messtechnik-Lexikon

Dieses Lexikon enthält insgesamt rund 500 Begriffe und Abkürzungen aus den Bereichen elektronische Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik.
Suche nach Begriffen im Glossar (Reguläre Ausdrücke erlaubt)
Beginnt mit Enthält Genauer TrefferKlingt ähnlich wie ...
Begriff Definition
A/m
Ampere pro Meter (Magnetische Feldstärke)
Zugriffe: 1
A2LA
American Association for Laboratory Accreditation
Zugriffe: 5
Abtastrate
Anzahl der Abtastungen eines Signals pro Zeitintervall
Zugriffe: 2
ACI
Adjacent Channel Interference - Nachbarkanalstörung
Zugriffe: 3
ACIR
Adjacent Channel Interference Ratio - Nachbarkanalstörabstand
Zugriffe: 2
ACLR
Adjacent Channel Leakage Power Ratio - Nachbarkanalleistung
Zugriffe: 3
ACP
Adjacent Channel Power - Nachbarkanalleistung
Zugriffe: 4
ACPR
Adjacent Channel Power Ratio - Nachbarkanaldämpfung
Zugriffe: 3
ACR
Attenuation to Crosstalk Ratio - Verhältnis von Dämpfung zu Nebensprechen
Zugriffe: 4
ADF
Automatic Direction Finder - automatisches Peilgerät (Radiokompass)
Zugriffe: 1
AEA
Acoustic Emission Analysis - Schallemissionsanalyse
Zugriffe: 5
AFM
Atomic Force Microscope - Atomkraftmikroskop
Zugriffe: 5
AM
Abkz. für Amplitudenmodulation
Zugriffe: 2
AOI
Automatische optische Inspektion
Zugriffe: 2
APG
Algorithmic Pattern Generator - Algorithmischer Testmuster-Generator
Zugriffe: 2
API
Automatic Paste Inspection – Automatische Inspektion des Lotpastendrucks
Zugriffe: 2
APT
Acceptance Test Procedure - Abnahmetest
Zugriffe: 2
ASAM
Association for Standardisation of Automation and Measurement Systems
Zugriffe: 3
AT1
Boundary Scan Analog Test Access Port bei IEEE 1149.4 (umfasst zwei Kanäle: AT1 und AT2)
Zugriffe: 5
AT2
Boundary Scan Analog Test Access Port bei IEEE 1149.4 (umfasst zwei Kanäle: AT1 und AT2)
Zugriffe: 2
ATAP
Boundary Scan Analog Test Access Port bei IEEE 1149.4 (umfasst zwei Kanäle: AT1 und AT2)
Zugriffe: 3
ATE
Automatic Test Equipment – Automatisches Testsystem
Zugriffe: 3
ATLAS
Abbreviated Test Language for All Systems – Standard-Testsprache spezifiziert in IEEE Std. 466 und 716
Zugriffe: 2
ATML
Automated Test Markup Language (XML based)
Zugriffe: 2
ATPG
Automatischer Test Programm Generator – Programm zur automatischen Erstellung von Testprogrammen auf der Basis der Schaltungsbeschreibung
Zugriffe: 1
AWGN
Additive White Gaussian Noise - additives weißes gaußsches Rauschen
Zugriffe: 3
AXI
Automatische Röntgeninspektion
Zugriffe: 1
AXIe
Standard auf der Basis von AdvancedTCA mit Erweiterungen für Test- und Messinstrumente. Siehe www.axiestandard.org
Zugriffe: 2
B
Bandbreite
Zugriffe: 4
Balun
Anpassglied (BALanced/UNbalanced), das einen unsymmetrischen Anschluss mit einem symmetrischen Anschluss verbindet und dabei die unterschiedlichen Impendanzen anpasst. Baluns werden oftmals auch als Symmetrierglied oder Impedanzwandler bezeichnet. Meist werden hierzu Transformatoren eingesetzt.
Zugriffe: 3
BATSO
BATtery Safety Organization - Standard für bessere Verbraucherinformation und mehr Sicherheit bei neuen Batterietechnologien für Elektro-Leichtfahrzeuge. BATSO ist ein Kooperationsprojekt von TÜV Rheinland, des gemeinnützigen Vereins ExtraEnergy, des ITRI-Institutes in Taiwan und der Underwriters Laboratories aus den USA.
Zugriffe: 3
BCI
Bulk Current Injection (Test) – Strominjektionstest (EMV)
Zugriffe: 1
BER
Bit Error Rate - Bitfehlerrate
Zugriffe: 2
BERT
Bit Error Rate Test - Bit-Fehlerratentest
Zugriffe: 4
BIP
Bit Parity Check - Paritätsprüfung
Zugriffe: 3
BIPM
Bureau International des Poids et Mesures (International Bureau of Weights and Measures) - Internationales Büro für Maße und Gewichte
Zugriffe: 1
BIST
Built-in Self Test
Zugriffe: 2
BIT
Built-in Test – Integrierte Testfunktion
Zugriffe: 1
Bit Error Rate
Verhältnis der fehlerhaft empfangenen Bits im Verhältnis zu den insgesamt gesendeten Bits. Abkürzung: BER
Zugriffe: 2
BITE
Built-in Test Equipment – Integrierte Testfunktion
Zugriffe: 3
BOB
Break-out Box
Zugriffe: 3
BoN
Bed of Nails – Nadelbettadapter (siehe Nadelbettadapter)
Zugriffe: 5
Boundary Scan
Elektrisches Verfahren bei dem über wenige serielle Ports (TCK, TDI, TDO und TMS beim klassischen IEEE 1149.1) eine Überprüfung der Verbindungen innerhalb der Schaltung ermöglicht wird. Setzt allerdings Bauteile mit integrierter Boundary Scan Funktionalität voraus. Durch Erweiterungen ist mittlerweile auch eine In-System-Programmierung von Speicherbauteilen und ein Test serieller, digitaler High-Speed Verbindungen möglich.
Zugriffe: 3
Boundary Scan Description Language
Beschreibungssprache, die den Aufbau eines Boundary Scan-fähigen Bausteins beschreibt.
Zugriffe: 2
BRAIN
Broadcast Rapid Access Intelligent Network - Kommunikationsprotokoll für synchrone Prozesssteuerungen
Zugriffe: 2
BS
Boundary Scan
Zugriffe: 3
BScan
Boundary Scan
BSDL
Boundary Scan Description Language
Zugriffe: 2
BST
Built-in Self Test
Zugriffe: 2
Built-in Self Test
Test einer Schaltung mit Hilfe von in die Schaltung integrierter Testfunktionen
Zugriffe: 3
Burn-in-Test
Test elektronischer Bauelemente, Baugruppen oder ganzer Geräte unter erhöhten Temperaturen. Hierbei sollen thermisch bedingte Frühausfälle provoziert werden.
Zugriffe: 3
BW
Bandwidth - Bandbreite
Zugriffe: 2
C-V
Capacitance-Voltage Testing
Zugriffe: 2
C/A
Coarse/Acquisition (GPS)
C/I
Carrier/Interface Ratio
Zugriffe: 1
C/N
Carrier-to-Noise Ratio - Träger-Rausch-Abstand
Zugriffe: 1
CAMAC
Computer Aided Measurement and Control
Zugriffe: 1
CC
Constant Current - Konstantstrom
CCE
Consultative Committee for Electricity
Zugriffe: 1
CCEM
Consultative Committee for Electricity and Magnetism (formerly CCE)
CCTF
Consultative Committee for Time and Frequency
Zugriffe: 2
CDC
Compact Diagnostic Chamber - kompakte Absorberhalle (EMV)
Zugriffe: 2
CDN
Coupling/Decoupling Network - Koppelnetzwerk
CHBW
Channel Bandwidth - Kanalbandbreite
CHP
Channel Power - Kanalleistung
CISPR
International Special Comitee on Radio Interference
Zugriffe: 1
CIT
Current Injection Test - Test mit Stromeinspeisung
Zugriffe: 1
CJC
Cold Junction Compensation - Kompensation der Referenzstellen-Temperatur
CMP
Continuous Monitoring Program
CMRR
Common Mode Rejection Ratio –Gleichtakt-Unterdrückungsverhältnis
Zugriffe: 1
CMV
Common Mode Voltage - Gleichtaktspannung
Zugriffe: 1
CMVR
Common Mode Voltage Ration – Gleichtakt-Spannungsverhältnis
Zugriffe: 3
CoP
Conformity of Production (EMC)
CPEM
Conference on Precision Electromagnetic Measurements
Zugriffe: 1
Crest-Fator
Siehe Scheitelfaktor
Zugriffe: 2
CSO
Composite Second Order - Störprodukte zweiter Ordnung im Nutzkanal
Zugriffe: 1
CTB
Composite Tripple Beat - Störprodukte dritter Ordnung im Nutzkanal
Zugriffe: 2
CTL
CAGE Test Language
Zugriffe: 2
D/S
Driver/Sersor
Zugriffe: 3
DANL
Displayed Average Noise Level - Angezeigter mittlerer Rauschpegel
Zugriffe: 2
dBA
Dezibel von Audiosignalen bezogen auf die Bewertungskurve A
Zugriffe: 2
dBi
Antennengewinn in Dezibel bezogen auf einen isotropen Strahler
Zugriffe: 1
dBm
Dezibel bezogen auf 1mW
Zugriffe: 1
dBuA/m
magnetischer Feldstärkepegel (magnetic field intensity)
Zugriffe: 1
dBV
dB in Bezug auf 1 V
Zugriffe: 1
dBW
dB in Bezug auf 1 W
Zugriffe: 1
DCT
Discrete Cosine Transform - Diskrete Cosinus-Transformation
Zugriffe: 3
DDA
Diagnosic Data Acquisition
Zugriffe: 3
DDC
Device Dependant Commands - Geräteabhängige Befehle
Zugriffe: 2
Design for Testability
Regeln für die Entwicklung elektronischer Schaltungen, die einen späteren Test erleichtern sollen
Zugriffe: 2
Device under Test
zu testendes Bauteil
Zugriffe: 1
DFS
Dynamic Frequency Selection (WLAN)
Zugriffe: 3
DfT
Design for Testability
Zugriffe: 2
DJ
Deterministic Jitter
Zugriffe: 1
DME
Distance Measuring Equipment - Entfernungsmesseinrichtung
Zugriffe: 3
DNL
Differential Nonlinearity - Differentielle Nichtlinearität
Zugriffe: 2
DOFS
Distributed Optical Fibre Sensing
Zugriffe: 2
DPM
Digital Panel Meter
Zugriffe: 2
DSO
Digital Storage Oscilloscope - Digitales Speicheroszilloskop
Zugriffe: 2
DTDR

differentielles Time-Domain Reflectometer (Zeitbereichs-Reflektometer)

Zugriffe: 1
DTE
Discrete Time Envelope Analysis - Diskrete Time-Envelope Analyse
Zugriffe: 3
DUT
Device under Test – zu testendes Bauteil
Zugriffe: 1
EDS
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer
Zugriffe: 1
Effektivwert
Quadratischer Mittelwert eines zeitlich veränderlichen Signals
Zugriffe: 1
EFTF
European Frequency and Time Forum
Zugriffe: 1
EIRP
Effective Isotropic Radiated Power - Entsprechend einem isotropen Strahler abgegebene Energie
Zugriffe: 2
ELF
Extremely Low Frequency - Extrem niedrige Frequenz (<3 kHz)
Zugriffe: 2
ELFEXT
Equal Level Far-End-Crosstalk
Zugriffe: 2
EME
Electromagnetic Emission- Elektromagnetische Ausstrahlung
EMI
Elektromagnetische Interferenz
Zugriffe: 1
EMS
Electromagnetic Susceptibility - Elektromagnetische Störfestigkeit
Zugriffe: 1
EMV
Elektromagnetische Verträglichkeit
EMVG
Gesetz über die elektromagnetische Verträglichkeit von Geräten
Zugriffe: 3
ENI
Equivalent Noise Input
Zugriffe: 1
ENR
Excess Noise Ratio - Funkelrauschen
Zugriffe: 2
EPA
Edge Placement Accuracy
Zugriffe: 2
ESCA
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
Zugriffe: 1
ESD
Electrostatic Discharge – Elektrostatische Entladung
Zugriffe: 2
ESL
Equivalent Series Inductance
Zugriffe: 1
ESS
Electronic Switching System - elektronisches Schaltsystem
Zugriffe: 3
ETS
Equivalent Time Sampling
Zugriffe: 2
EUROMET
European Collaboration in Measurement Standards
Zugriffe: 1
EUT
Equipment under Test - zu prüfendes Gerät
fA
Femtoampere
Zugriffe: 1
FAR
Fully Anechoic Room
Zugriffe: 1
FCMV
Force Current, Measure Voltage – Strom einspeisen, Spannung messen
Zugriffe: 2
FDTD
Finite Difference Time Domain
Zugriffe: 2
Federkontaktstift
Kontaktierungselement für den Test von Leiterplatten, elektronischen Baugruppen und Bauteilen. Nadelbettadaptern für einen In-Circuit-Test enthalten oftmals mehrere Hundert Federkontaktstifte.
FEXT
Far-end Crosstalk - Fernnebensprechen
FF
Fill Factor (solar cell) - Füllfaktor (Solarzelle) > siehe Füllfaktor
FFP
Far Field Pattern- Fernfeldstrahlungsmuster
Zugriffe: 1
FIB
Focused Ion Beam - fokussierter Ionenstrahl
FIR
Finite Impulse Response
Zugriffe: 1
FIT
Fault Isolation Test - Fehlereingrenzungstest
Zugriffe: 2
FIU
Fault Insertion Unit
Zugriffe: 1
Flying Probe Test
Testverfahren für Leiterplatten und elektronische Baugruppen, wobei die Kontaktierung mittels beweglicher Testnadeln erfolgt
FPT
Flying Probe Test
Zugriffe: 2
FS
Full Scale - Vollausschlag
Zugriffe: 2
FSR
Full Scale Range - Vollausschlag
Zugriffe: 2
FT
Funktionstest
Zugriffe: 1
FTIR
Fourier Transformed Infrared Spectroscopy
Zugriffe: 2
Füllfaktor
Quotient aus der maximalen Leistung einer Solarzelle am Maximum Power Point (MPP) und dem Produkt aus Leerlaufspannung und Kurzschlussstrom. (engl. fill factor)
Zugriffe: 2
Funktionstest
Funktionelle Prüfung einer elektronischen Baugruppe. Die Kontaktierung erfolgt meist über vorhandene Steckerleisten oder einen Nadelbettadapter
Zugriffe: 3
FVMC
Force Voltage, Measure Current – Spannung einspeisen, Strom messen
Zugriffe: 4
G
Conductance – Leitfähigkeit
Zugriffe: 1
GCF
lobal Certification Forum - www.globalcertificationforum.org
Zugriffe: 1
GET
Group Execute Trigger
Zugriffe: 2
GLONASS
Global Navigation Satellite System
Zugriffe: 2
GNSS
Global Navigation Satellite System
Zugriffe: 1
GPIB
General Purpose Interface Bus – Bussystem zur Verbindung von Messinstrumenten mit einem Steuerrechner. Wird auch als HP-IB oder IEEE-488.1 bezeichnet.
GS
Ground-Signal Contact Geometry for Probing - Anordnung der Messspitzen: Ground-Signal
GSG
Ground-Signal-Ground Contact Geometry for Probing - Anordnung der Messspitzen: Ground-Signal-Ground
Zugriffe: 2
GSSG
Ground-Signal-Signal-Ground Contact Geometry for Probing - Anordnung der Messspitzen: Ground-Signal-Signal-Ground
Zugriffe: 1
GTEM
Gigahertz Transverse Electromagnetic (Cell) - Gigahertz TEM-Zelle - definierte Umgebung für Prüfungen und Messungen der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV)
Zugriffe: 1
GUM
Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (ISO) - Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit bei Messungen
GWFI
Glow Wire Flammability Index - Glühdraht-Entflammbarkeitsindex
Zugriffe: 1
GWIT
Glow Wire Ignition Temperature
Zugriffe: 1
GWT
Glow Wire Test/Temperatur - Glühdraht-Test/Temperatur
Zugriffe: 2
HALT
Highly Accelerated Life Testing - Beschleunigter Lebensdauertest
Zugriffe: 3
HART
Highway Addressable Remote Transducer - Kommunikationssystem für industrielle Feldbusse, basiert auf dem 4/20 mA-Standard
Zugriffe: 1
HASS
Highly Accelerated Stress Screening - Beschleunigter Lebensdauertest mit erhöhter Beanspruchung
Zugriffe: 2
HBD
Human Body Discharge - elektrostatische Entladung über den Körper
Zugriffe: 2
HBM
Human Body Model - Modell des menschlichen Körpers zur Siumlation von elektrostatischen Entladungen. Es wird hierbei angenommen, dass der menschliche Körper eine Kapazität von 100 bis 300 pF und einen Widerstand von etwa 1.500 Ohm hat.
Zugriffe: 2
HD
Harmonic Distortion - Harmonische Verzerrungen
Zugriffe: 1
HIL
Hardware-in-the-Loop
Zugriffe: 2
HILS
Hardware-in-the-Loop Simulation
Zugriffe: 1
HIPOT
High Potential (Test) - Hochspannungstest
HP-IB
Bussystem zur Verbindung von Messinstrumenten mit einem Steuerrechner. Wird auch als HP-IB oder IEEE-488.1 bezeichnet.
Zugriffe: 2
HPIB
Hewlett-Packard Interface Bus (=GPIB) - Schnittstelle zur Verbindung von Messinstrumenten mit einem Steuerrechner
Zugriffe: 1
HS-BERT
High Speed Bit Error Rate Test
HUM
Humming - Brummen
Zugriffe: 1
HV
High Voltage – Hochspannung
Zugriffe: 2
I-V
Current-Voltage Testing
Zugriffe: 1
IA
Instrumentation Amplifier - Instrumentenverstärker
Zugriffe: 1
ICE
In-Circuit Emulator
Zugriffe: 2
ICRC
International Compliance and Regulatory Committee
IDDQ
Quiescent Drain Current - Messung der Ruhestromaufnahme
Zugriffe: 1
IEEE 1149.1
Boundary Scan für einen statischen, digitalen Verbindungstest (klassischer Boundary Scan Test)
Zugriffe: 1
IEEE 1149.4
Boundary Scan zum Test analoger Bauteile
Zugriffe: 1
IEEE 1149.6
Boundary Scan für einen Test serieller, digitaler High-Speed Verbindungen, beispielweise für LVDS und PCI-Express
Zugriffe: 2
IEEE 1155
Siehe VXIbus
Zugriffe: 3
IEEE 1532
Boundary Scan zur In-System-Programmierung von CPLDs und FPGAs
Zugriffe: 3
IEEE 488.1
Bussystem zur Verbindung von Messinstrumenten mit einem Steuerrechner. Wird auch als GPIB oder HP-IB bezeichnet.
Zugriffe: 3
IFM
Instantaneous Frequency Measurement
Zugriffe: 2
IFT
Inverse Fast Fourier Transformation
IIR
Infinite Impuse Response
Zugriffe: 1
IL
Insertion Loss - Einfügedämpfung
Zugriffe: 2
IM
Intermodulation
Zugriffe: 1
IMD
Intermodulation Distortion - Intermodulationsverzerrung
Zugriffe: 3
IMMC
Integrated Measurement Module Communications
IMOLA
Intelligent Mobile Lab
Zugriffe: 3
IMS
Integrated Measurement System - Integriertes Messsystem
In-Circuit Test
"Testverfahren mit dem die elektrischen Bauelemente auf der Baugruppe direkt kontaktiert und durch spezielle Messverfahren möglichst ""isoliert"" geprüft werden. Die Kontaktierung erfolgt meist über einen Nadelbettadapter."
Zugriffe: 2
INL
Integral Nonlinearity - Integrale Nichtlinearität
Zugriffe: 1
IOT
Interoperability Testing
Zugriffe: 2
IR
Insulation resistance - Isolationswiderstand
Zugriffe: 1
ISA
Instrument Society of America
ISO 13209
Open Test sequence eXchange format - internationaler Standard zur Beschreibung von Diagnosesequenzen für die Fahrzeugdiagnose
ITC
International Test Conference
Zugriffe: 2
IVI
Interchangable Virtual Instrument
Zugriffe: 1
JEMIMA
Japan Electric Measuring Instruments Manufacturers’ Association
JETAG
Joint European Test Action Group
Zugriffe: 1
JTAG
Joint Test Action Group (hat ab etwa 1985 den Boundary Scan Test entwickelt)
Zugriffe: 1
KGB
Known Good Board – fehlerfreie Baugruppe als Testmuster
Zugriffe: 1
KGD
Known Good Die
KGU
Known Good Unit – fehlerfreie Baugruppe als Testmuster
Zugriffe: 1
Klirrfaktor
Maß für die durch nichtlineare Komponenten erzeugten unerwünschten Verzerrungen
Zugriffe: 1
Kombinationstest
Kombination verschiedener Testverfahren meist eines In-Circuit- und eines Funktionstests zur Erzielung einer höheren Testabdeckung
Zugriffe: 1
Konformitätstest
Test im Hinblick auf die Einhaltung eines bestimmten Standards
Zugriffe: 1
Ksps
Kilo-Samples per Second - Tausend Messungen pro Sekunde
Zugriffe: 2
KV
Koppelverhältnis (Coupling Ratio)
Zugriffe: 1
LCZ
Inductivity, Capacitance, Impedance - Induktivität, Kapazität, Impedanz
Zugriffe: 1
LEMP
Lightning Electromagnetic Pulse - elektromagnetischer Impuls von Blitzen
Zugriffe: 3
LF
Low Frequency – Niederfrequenz
Zugriffe: 1
LIV
Light-Current-Voltage
LNA
Low Noise Amplifier - Rauscharmer Verstärker
Zugriffe: 1
Loopback Test
Test bei dem ein Signal nach der Übertragung vom Empfänger zurückgesendet und mit dem ursprünglichen Signal verglichen wird
Zugriffe: 2
LRM
Load Reflection Match
Zugriffe: 1
LSF
Linear Spectral Frequency (Signal Processing)
Zugriffe: 1
LSSD
Level Sensitive Scan Design
Zugriffe: 4
LVDT
Linear Variable Differential Transformer - Induktiver Messwertaufnehmer nach dem Differentialtransformatorprinzip (Längenmessung)
Zugriffe: 1
LVP
Laser Voltage Probe
LXI
LAN Extensions for Instrumentation
Zugriffe: 1
mA
Milliampere (1/1000 A)
Zugriffe: 1
MAD
Mean Absolute Difference - Mittlerer absoluter Fehler
Zugriffe: 2
Manufacturing Defect Analyzer
"Testverfahren mit dem die elektrischen Bauelemente auf der Baugruppe direkt kontaktiert und durch spezielle Messverfahren möglichst ""isoliert"" geprüft werden. Ähnlich dem In-Circuit-Test, ist aber auf analoge Bauteile beschränkt, so dass ein einfacherer Testaufbau ausreicht."
Zugriffe: 3
MATE
Modular Automatic Test Equipment - Modulares automatisches Testsystem
Zugriffe: 2
MDA
Manufacturing Defect Analyzer – einfacher In-Circuit-Test, der sich auf den Test der analogen Bauteile beschänkt
Zugriffe: 4
MDOF
Multiple Degree of Freedom (Modal Analyse)
Zugriffe: 1
MER
Modulation Error Rate
MFT
Multifunktionstest – Adaptierung des Prüfobjektes über die vorhandenen Schnittstellen (Stecker) und Prüfung der Funktionen der Baugruppe
mH
Millihenry (1/1000 H)
Zugriffe: 1
MHz
Megahertz (1.000.000 Hz)
Zugriffe: 1
mil
Längeneinheit (1/1000 Inch = 0.0254 mm)
Mixed-Signal-Test
Test von analogen und digitalen Schaltungen
MKS
Meter, Kilogramm und Sekunde
Zugriffe: 1
MKSA
Meter, Kilogramm, Sekunde und Ampere
MKSAK
Meter, Kilogramm, Sekunde, Ampere und Kelvin
Zugriffe: 1
mm
Millimeter (1/1000 Meter)
Zugriffe: 1
MPP
Maximum Power Point (solar cell) - Punkt im Strom-Spannungs-Diagramm mit der maximalen Ausgangsleistung (Solarzelle)
Zugriffe: 3
MPT
Moving Probe Tester (= Flying Probe Tester)
Zugriffe: 3
MS/s
Megasample per Second - Millionen Abtastungen pro Sekunde
Zugriffe: 1
MSO
Mixed Signal Oscilloscope - Mixed-Signal-Oszilloskop
Msps
Mega-Samples per Second – Millionen Messungen pro Sekunde
Zugriffe: 2
mV
Millivolt (1/1000 V)
MVI
Manual Vision Inspection - Sichtprüfung
Zugriffe: 1
MXI
Multiplatform Extension for Instrumentation
Zugriffe: 1
MXIbus
Multisystem eXtension Interface Bus
nA
Nanoampere
Nadelbettadapter
Testadapter, der einen Kontakt zwischen den Testkanälen des Testsystems z.B. In-Circuit-Tester und den Schaltungsknoten der zu prüfenden Baugruppe herstellt. Es kommen meist federnde Kontaktstifte zum Einsatz. Der Adapter muss individuelle für die jeweilige Baugruppe gefertigt werden.
NCSL
National Council of Standards Laboratories
Zugriffe: 1
NDC
Negative Differential Conductance - Negativer differentieller Leitwert
NEP
Noise Equivalent Power - äquivalente Rauschleistung
NEXT
Near-end Crosstalk - Nahnebensprechen
Zugriffe: 1
NF
Noise Figure - Rauschzahl
Zugriffe: 1
NIM
National Institute of Metrology, Beijing (China)
Zugriffe: 1
NIST
National Institute of Standards & Technology
Zugriffe: 1
nm
Nanometer d.h. 1E-9 Meter
Zugriffe: 1
NMIJ
National Metrology Institute of Japan
NMRR
Normal Mode Rejection Ration - Gegentaktunterdrückungsverhältnis
NPLC
Number of Powerline Cycles - Anzahl der Netzdurchgänge
Zugriffe: 1
NRZI
Non Return to Zero Inverted Code
NSA
Normalised Site Attenuation - normalisierte Felddämpfung
NTC
Negative Temperature Coefficient - Thermistor mit negativem Temperaturkoeffizienten
Zugriffe: 2
nV
Nanovolt
Zugriffe: 1
NVLAP
National Voluntary Laboratory Accreditation Program
Zugriffe: 1
NWA
Netzwerkanalysator
Zugriffe: 2
OATS
Open Area Test Site - Freifeld
OC
Open Circuit - Unterbrechung
Zugriffe: 1
OFD
Opportunity for Defects - Fehlermöglichkeiten
Zugriffe: 2
OI
Optische Inspektion = manuelle Sichtkontrolle
Zugriffe: 2
OLTS
Optical Loss Test Set (besteht aus einer Lichtquelle und einem Leistungsmesser)
Zugriffe: 1
ORFS
Output RF Spectrum
Zugriffe: 2
OSAT
Outsourced Semiconductor Assembly and Test
Zugriffe: 2
OTA
Overall Timing Accuracy
OTDR
Optical Time Domain Reflectometer - optisches Rückstreumessgerät
Zugriffe: 3
OTPL
Openstar Test Programming Language
Zugriffe: 3
OTX
Open Test sequence eXchange format (ISO 13209) - internationaler Standard zur Beschreibung von Diagnosesequenzen für die Fahrzeugdiagnose
Zugriffe: 1
OUT
Object under Test - Testobjekt
p-p
Peak to Peak - Spitze-Spitze
Zugriffe: 1
P1581
Boundary Scan Enhancement for Memory Devices - Boundary Scan Erweiterung für Speicherbauteile
Zugriffe: 2
pA
Picoampere
Zugriffe: 2
PAPR
Peak-to-Average-Power-Ratio - Verhältnis zwischen Spitzenleistung und mittlerer Leistung
Zugriffe: 2
PAR
Peak-to-Average Ratio
PAWS
Professional ATLAS/ABBE Workstation
Zugriffe: 3
PCB
Printed Circuit Board = gedruckte Schaltung = Leiterplatte (steht im Englischen aber oft auch für eine elektronische Baugruppe)
Zugriffe: 3
PEP
Peak Envelope Power - Hüllkurvenleistung
PF
Power Factor - Leistungsfaktor
Zugriffe: 2
PGIA
Programmable Gain Instrumentation Amplifier - Instrument mit einstellbarer Verstärkung
PICA
Picosecond Imaging Circuit Analysis
Zugriffe: 3
PIND
Particle Impact Noise Detection
Zugriffe: 3
PMU
Parameter Measure Unit - Parameter-Messeinheit
Zugriffe: 3
PPS
Precise Positioning Service (GPS)
PPSCAN
Pseudo Partial Scan
Zugriffe: 2
PRF
Pulse Repetition Frequency - Impulswiederholfrequenz
Zugriffe: 1
PRN
Pseudorandom Noise - Pseudo-zufälliges Rauschen
Zugriffe: 3
PSD
Power Spectral Density - Spektrale Leistungsdichte
Zugriffe: 1
PSI
Pressure per Square Inch - Druck pro Quadratzoll
Zugriffe: 1
PT100
Platin-Temperatursensor (Kaltleiter) mit einem Nennwiderstand R0=100 Ohm bei einer Temperatur von 0 °C
Zugriffe: 3
PTB
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Zugriffe: 1
PTPA
Probe to Pad Alignment
PVT
Process Verification Test
PXI
PCI eXtensions for Instrumentation – Erweiterung des PCI Bus speziell für Messanwendungen
Zugriffe: 3
RAD
Radiation Absorbed Dose
Zugriffe: 1
RBW
Resolution Bandwidth - Auflösebandbreite
Zugriffe: 3
Rj
Random Jitter
Zugriffe: 2
RLA
Received Level Average - Mittlerer Empfangspegel
RMS
Root Mean Square - Effektivwert
Zugriffe: 1
ROI
Region of Interest
Zugriffe: 2
RRC
Root-Raised Cosine-Filter
Zugriffe: 2
RSD
Relative Standard Deviation - Relative Standardabweichung
RSP
Received Signal Power - Leistung des Empfangssignals
Zugriffe: 2
RSS
Root-Sum of Square - quadratischer Mittelwert (Effektivwert)
RSSI
Received Signal-Strength Indicator
Zugriffe: 1
RT
Rise Time - Anstiegszeit
Zugriffe: 1
RTD
Resistive Temperature Detector - Widerstandsthermometer
Run-in-Test
Test einer elektronischen Baugruppe oder eines kompletten Geräts unter Last und ggf. wechselnden Temperaturbedingungen. Ermöglicht die Erkennung von Frühausfällen
Zugriffe: 1
S/H
Sample and Hold - Abtasten und Zwischenspeichern
Zugriffe: 2
S/I
Signal-to-Interference Ratio
Zugriffe: 3
S/N
Signal Noise - Verhältnis Nutz-/Strösignal
Zugriffe: 3
SA
Störaussendung
Zugriffe: 3
SAR
Specific Absorption Rate - spezifische Absorptionsrate
Zugriffe: 1
Scheitelfaktor
Verhältnis zwischen Spitzenwert (Scheitelwert) und Effektivwert
Zugriffe: 1
SCPI
Standard Commands for programmable Instruments – Standard-Befehle für programmierbare Messgeräte
Zugriffe: 2
SDOF
Single Degree of Freedom (Modal Analyse)
Zugriffe: 3
SDR
Signal-to-Distortion Ratio
Zugriffe: 2
SEM
Scanning Electron Microscope - Rasterelektronenmikroskop
Zugriffe: 2
SF
Störfestigkeit
Zugriffe: 3
SFDR
Spurious-free Dynamic Range - Störsignalfreier Dynamikbereich
SFM
Spectral Flatness Measure - spektrale Flachheit, spektrale Ungleichverteilung
Zugriffe: 3
SHF
Super-high Frequency - Sehr hohe Frequenz
Shunt
Nebenschlusswiderstand zur Messung von Strömen
SI
Signalintegrität (Signal Integrity)
Zugriffe: 3
SICL
Standard Instrument Control Library - Bibliothek mit Kommunikationsmodulen für Messinstrumente für unterschiedliche Computer-Architekturen und Betriebssysteme
Zugriffe: 4
SILC
Stress Induced Leakage Current
Zugriffe: 2
SIM
Scanning Ion Microscope - Rasterionenmikroskop
Zugriffe: 1
SIMS
Secondary Ion Mass Spectrometry - Sekundärionen-Massenspektrometrie
SINAD
Signal to Noise plus Distrotion - Signalabstand zu Rausch- und Störsignalen
SIR
Surface Insulation Resistance - Oberflächen-Isolationswiderstand
Zugriffe: 1
SIV
Stress Induced Voiding
SJTAG
System-level JTAG (Boundary Scan)
SLAM
Scanning Laser Acoustic Microscope
Zugriffe: 1
SMART
Standard Module Avionic Repair and Test - Test und Reparatur von Standardmodulen für die Luftfahrt
Zugriffe: 1
SMU
Source-Measure-Unit – Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter
SNR
Signal-to-Noise Ratio - Signal-Rausch-Abstand
Zugriffe: 1
SOLT
Short Open Load Through
Source-Measure-Unit
Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter
Zugriffe: 1
SPI
Solder Paste Inspection - Lotpasten-Inspektion
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SPL
Sound Pressure Level - Schalldruckpegel
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SPM
Scanning Probe Microscope – Rastersondenmikroskop
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SPS
Standard Positioning Service (GPS)
SSH
Simulataneous Sample and Hold - Simultane Abtastung und Zwischenspeicherung
Standard Test Data Format
Binäres Datenformat zur Speicherung von Messdaten beim Test von Halbleitern. Wurde ursprünglich von Teradyne entwickelt, wird aber inzwischen auch von anderen ATE-Anbietern unterstützt.
STC
Semiconductor Test Consortium Das Semiconductor Test Consortium (STC) ist eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung offener Teststandards (z.B. OpenStar) in der Halbleiterindustrie. Das STC wurde im Jahr 2003 gegründet und Anfang 2009 wieder aufgelöst. Die bis dahin erarbeiteten Standards wurden an die Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI) übergeben. Die Marke OpenStar wurde an das Unternehmen Advantest Corp. übergeben.
STDF
Standard Test Data Format
STEM
Scanning Transmission Electron Microscope - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop
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STEP
Simple Transition Electronic Processing
STIL
Standard Test Interface Language (IEEE 1450)
STIX
Semiconductor Test Interface eXtensions (Initiative)
STPD
Standard Temperature Pressure Dry - Standardbedingungen für Gasmessungen (Temperatur/Druck/Feuchte)
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SWEAT
Standard Wafer-level Electromigration Accelerated Test
SWR
Standing Wave Ratio - Stehwellenverhältnis
T&M
Test & Measurement - Test- & Messtechnik
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T/C
Thermocouple - Thermoelement
T/H
Track and Hold - Folgen und Halten
TAAF
Test, Analyze AND Fix - Prüfen, Analysieren und Reparieren
TAI
International Atomic Time - internationale Atomzeit
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TC
Temperature Coefficient - Temperaturkoeffizient
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TCE
Thermal Coefficient of Expansion - Wärmeausdehnungskoeffizient
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TCK
Boundary Scan Test Clock Port
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TCR
Temperature Coefficient of Resistance - Widerstands-Temperaturkoeffizient
TCVCXO
Temperature-Compensated Voltage Controlled Crystal Oscillator - Temperatur-kompensierter spannungsgesteuerter Quartzoszillator
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TCXO
Temperature-Compensated Crystal Oscillator - Temperature-Compensated Crystal Oscillator
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TDBI
Test During Burn-In
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TDI
Boundary Scan Test Data In Port
Zugriffe: 1
TDO
Boundary Scan Test Data Out Port
Zugriffe: 1
TDR

Time Domain Reflectometer - Zeitbereichs-Reflektometer

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TEDS
Transducer Electronic Data Sheet - Elektronisches Sensor-Datenblatt
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TEM
Transverse Electromagnetic - Transversal-elektromagnetisch
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Testabdeckung
Verhältnis der mit Hilfe des Tests erkennbaren Fehlern zu den insgesamt möglichen Fehlern
Testpattern
Testmuster – Binärwort, das beim Funktionstest an den Eingang der zu testenden Schaltung angelegt wird.
TFA
Thin Film on ASIC (Sensor)
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TGA
Thermo Gravimetric Analysis
Zugriffe: 1
THD
Total Harmonic Distortion - Gesamtklirrfaktor
Zugriffe: 1
TIMS
Transition Impairment Measurement System - Übertragungsdämpfungsmesssystem
TM
Test Mode - Testmodus
TMAG
Testability Management Action Group
TMS
Boundary Scan Test Mode Select Port
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TOS
Tester Operating System (STC)
TPC
Transmit Power Control - Sendeleistungssteuerung
Zugriffe: 1
TPHM
Telemetric Personal Health Monitoring
TRL
Through Reflection Load
TRST
Boundary Scan Test Reset Port (optinaler 5. Test Port)
Zugriffe: 1
TVG
Test Vector Generator - Testvektorgenerator
Zugriffe: 2
U
Spannung (Kurzzeichen)
uA
Microampere
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UTP
Unit Test Period
Zugriffe: 1
UUT
Unit under Test – Testobjekt – zu prüfendes Bauteile, Baugruppe oder Gerät
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uV
Microvolt (1/1.000.000 V)
V/F
Voltage to Frequency
V/I
Voltage/in-Current
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V/m
Volt pro Meter (Elektrische Feldstärke)
Zugriffe: 2
Vakuumadapter
Für den Test (In-Circuit-Test und Funktionstest) von bestückten Leiterplatten. Unter der Leiterplatte wird ein Vakuum erzeugt, so dass diese auf die Federkontaktstifte gedrückt wird, so dass ein zuverlässiger elektrische Kontakt mit sehr vielen Schaltungsknoten hergestellt werden kann.
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VAR
Volt-Ampere Reactive - Blindleistung
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VFC
Voltage to Frequency Converter - Spannungs/Frequenz-Wandler
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VI
Virtual Instrument
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Vierdraht-Messung
Anstatt der sonst üblichen zwei Messleitungen werden bei diesem Verfahren zur Widerstandsmessung vier Messleitungen verwendet. Durch zwei Messleitungen fließt der Messstrom und über die anderen zwei erfolgt die Spannungsmessung. Dadurch lässt sich der Spannungsabfall über den Messleitungen und den Kontaktstellen mit dem Messobjekt kompensieren.
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VIM
International Vocabulary of Basic and General Terms in Metrology
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VISA
Virtual Instrument Software Architectur
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VLF
Very Low Frequency - Sehr niedrige Frequenz (kleiner 30 kHz)
VNA
Vector Network Analyser - Vektornetzwerkanalysator
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VSWR
Voltage Standing Wave Ratio - Stehwellenverhältnis = Verhältnis der Effektivspannungen der vor- und rücklaufenden Welle
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VT
Voltage Threshold - Spannungsschwelle
VXI
VME-Bus Extension for Instrumentation
Zugriffe: 1
VXIbus
VMEbus Extension for Instrumentation – Erweiterung des VME Bus speziell für Messanwendungen
Zugriffe: 2
WLBI
Wafer-Level Burn-in = Burn-in auf Wafer-Ebene
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WLBT
Wafer-Level Burn-in and Test
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WMO
World Meteorological Organization
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X
Reactance - Blindwiderstand, Reaktanz
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XRF
X-ray Fluorescence - Röntgenstrahlfluoreszenz
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Z
Scheinwiderstand, Impedanz
ZD
Zusatzdämpfung (Excess Loss)
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