Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

News - Sonstige Messtechnik

Modulare LXI Ethernet Reed Relais Matrix Module

Pickering 65 22108. September 2017 – Pickering Interfaces stellt neue hochdichte modulare LXI Ethernet Reed Relais Matrizen vor. Die neuen High-Density Modular LXI Ethernet Reed Relais Matrix Module (Modell 65-22x) waren ursprünglich für den Halbleitertest auf Wafer- und Bausteinebene entwickelt worden. Die Reed Relais Matrix Lösung kombiniert Pickerings LXI modulares Chassis (Modell 65-200) mit neuen innovativen Einschub-Matrix-Modulen, die durch einen 200 Pin Anschluss-Stecker Zugang zu allen Signalpfaden haben.

Die Einschub-Module nutzen Reed Relais von Pickering Electronics, die ein Maximum an Belastbarkeit und Zuverlässigkeit bei sehr schnellen Schaltzyklen bieten.

Die neue Lösung umfasst vier neue Einschub Module für Matrizen bis zu 1.536 x 4 in Schritten von 128 (Modell 65-221), 768 x 8 in Schritten von 64 (Modell 65-223)¸ 384 x 16 in Schritten von 32 (Modell 65-225) und 192 x 32 in Schritten von 32 (Modell 65-227). Anwender können die erforderliche Anzahl der Einschub Module, von einem bis maximal sechs, frei wählen.

Eine weitere besondere und für parametrische Tests höchst effiziente Systemeigenschaft ist, dass bis zu 1500 Relais gleichzeitig geschlossen werden können. Die neuen Einschub Matrix Module bieten integrierte, sequenzier- und triggerbare Scan-Listen-Speicher, die es dem Anwender gestatten, vordefinierte Schaltsequenzen in den LXI Systemen abzulegen. Die Sequenzen können entweder durch Softwareroutinen oder über eine der sechzehn digitalen und Software-konfigurierbaren Signalleitungen abgerufen werden. Das Konzept bietet dabei auch eine „Multi-Bus“ Fähigkeit für den Paralleltest.

Die neuen Module verfügen über Pickerings integrierte BIRST Selbst-Test Funktion und werden auch durch die externen eBIRST Test Adapter und Werkzeuge unterstützt. BIRST und eBIRST ermöglichen im Fehlerfall eine schnelle und effiziente Lokalisierung von möglichen Relaisdefekten.

Über den Halbleiter-Test hinaus finden sich vielfältige Anwendungen für diese neuen Systeme in vielen anderen Industriesegmenten, wie z.B. Funktionstest von Automotive-ECUs.

Alle von Pickering Interfaces gefertigten Produkte werden mit einer 3-jährigen Garantie und einer Langzeitverfügbarkeit ausgeliefert.

www.pickeringtest.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows