All-about-Test

1. Trace- und Breakout-Adapter für neue AURIX Prozessoren: (Baugruppen); ... ion Device) ausgestattet, wodurch der Anschluss von zwei Debuggern möglich ist. Die Adapter sind für die Bauformen BGA292 und BGA516 verfügbar und werden individuell nach Kunden-Anforderungen bestückt. ...; Erstellt am 10. Februar 2017
2. 32 Gb/s Bitfehlerraten-Tester zur Prüfung von Empfängern: (Baugruppen); ... attern-Empfindlichkeits- und Vorwärtsfehlerkorrektur-Emulation nutzen diese Information, um Faktoren verstehen zu helfen, die zu Bitfehlern beitragen. Verfügbarkeit und Preis Das BERTScope der BSX Ser ...; Erstellt am 01. Februar 2017
3. Testlösung für Fahrzeugradarsysteme: (Baugruppen); ... ndbreite von 1 GHz. Aufgrund des Designs kann das System als Vektorsignalgenerator und -analysator für mm-Wellen eingesetzt werden. Der FPGA des VST lässt sich mit LabVIEW für die Emulation von Radarzielen pr ...; Erstellt am 24. Januar 2017
4. HLG-Messlösung für Broadcast-Endgeräte der neuesten Generation: (Baugruppen); ... ch HLG-fähige Endgeräte testen. Hierzu gehören der Test und die Emulation der Signalisierung ebenso wie die Bereitstellung neuer Testbilder. Die Lösung ist abwärtskompatibel zu HDMI1.4 und unterstüt ...; Erstellt am 18. Januar 2017
5. Prüfsonde zur Ortung externer PIM-Quellen: (Service/Wartung/Installation); ... -Ausführung konzipiert sind, wurden speziell für den Einsatz in 4G/3G/2G- und WiMAX-Netzen entwickelt, aber auch für die CPRI-HF- und BBU-Emulation. www.anritsu.com/ ...; Erstellt am 19. Dezember 2016
6. Hochflexible Emulation von intelligenten Stromnetzen: (Allgemein); Hochflexible Emulation von intelligenten Stromnetzen 16. November 2016 - HEIDEN power präsentiert mit dem System HGE15 eine innovative Neuheit im Bereich der Netz-Emulation. Das HGE15 bietet nicht nur ...; Erstellt am 15. November 2016
7. 16 Bit PXIe Signalgeneratoren mit ein bis vier Kanälen: (Allgemein); ... Signalen aus der realen Welt vorgesehen. Dazu erzeugen die programmierbaren Ausgangsverstärker Signalpegel von ±200 mV bis ±4 V (±5 V für 625 MS/s Modelle) in hochohmige Senken und ±100 mV bis zu ±2 V (±2,5 ...; Erstellt am 21. Oktober 2016
8. Testlösung für BBU-Emulation: (Service/Wartung/Installation); Testlösung für BBU-Emulation 12. Oktober 2016 – Anritsu erweitert den BTS Master MT8220T mit einer BBU-Emulationsfunktion, die Zeit und Kosten bei der Verifizierung des Betriebs von LTE-Funkzellen s ...; Erstellt am 10. Oktober 2016
9. USB/LXI-Chassis mit zwei Modulsteckplätzen: (Allgemein); ... onfigurationen beinhalten Schaltmatrizen mit bis zu 114 Kreuzungspunkten, Multiplexer mit bis zu 396 Kanälen oder bis zu 36 Kanäle programmierbare Widerstände zur Sensoremulation. "Schon seit längere ...; Erstellt am 12. September 2016
10. Test und Emulation von Bluetooth-SoC-Controllern: (Baugruppen); Test und Emulation von Bluetooth-SoC-Controllern 06. September 2016 - GÖPEL electronic hat seine Prozessoremulation auf die nRF52-Serie von Nordic Semiconductor erweitert. Über den SWD-Port wird der P ...; Erstellt am 05. September 2016
11. Neue Generation von HiL-Simulatoren für Batteriesimulation: (Allgemein); ... ktive Ladesysteme sind dabei unter anderem eine Hochvolt-Leistungsemulation (Norm: LV 123) sowie Simulationsmodelle für Lidar-Systeme entstanden. Auch Radar-Systeme stehen im Fokus der Entwicklung. Für den T ...; Erstellt am 30. Mai 2016
12. Automatische Generierung von Testprogrammen für Mixed-Signal-Designs: (Baugruppen); ... mmierung, Processor Emulation Tests oder Anwendungen von FPGA Embedded Instruments kombinieren. Hardwareseitig unterstützt der Mixed Signal Test-Generator sowohl die JTAG/Boundary Scan Plattform SCANFLEX, al ...; Erstellt am 23. Mai 2016
13. Oszilloskope mit revolutionärer OneTouch Gesten-Steuerung: (Allgemein); ... en komplette digitale Designs simuliert werden. Zusammen mit dem Web Editor können sogar viele Logic Gates zusammen in einer mathematischen Funktion kombiniert werden und auf diese Weise selbst komplexe Logi ...; Erstellt am 05. April 2016
14. PLS erweitert Debug Engine mit neuen Funktionen: (Baugruppen); ... Emulation Configurator (UEC) der UDE zur Definition von Trace-basierten Messaufgaben wurde um eine Bibliothek für das Mini-MCDS der aktuellen AURIX-Bausteine von Infineon erweitert. Damit steht ein Teil ...; Erstellt am 08. Februar 2016
15. Wireless-Testset für Multiformat-Mobilfunkgeräte: (Baugruppen); ... rkemulationsplattform UXM jetzt auch die GSM- und TD-SCDMA-Technologien unterstützt", sagte Satish Dhanasekaran, General Manager von Keysights Mobile Broadband Operation. "Wir haben Weltklasse-Software von der Netz ...; Erstellt am 02. Februar 2016
16. Arbiträrsignalgenerator mit derzeit höchster Abtastrate, Bandbreite, Auflösung und Kanaldichte: (Allgemein); ... mponenten – das Gerät bietet vier synchronisierte, voneinander unabhängige Kanäle, die u. a. die deterministische Emulation einschließlich Vorverzerrung zweier unabhängiger I/Q-Signale ermöglichen Messun ...; Erstellt am 22. September 2015
17. Debug- und Testlösung für neue Automotive MCUs von STMicroelectronics: (Baugruppen); ... den. Die MCUs der SPC58 E-Familie sind auch als zum Serienchip pin-kompatible Emulation Devices verfügbar. Sie beinhalten zusätzlichen Emulationsspeicher, eine aufwendige Trigger- und Filterlogik sowi ...; Erstellt am 10. September 2015
18. Testsystem zur Absicherung vernetzter Sicherheitssteuergeräte: (Baugruppen); ... v. a. auch die FPGA-basierte Emulation von SPI-Sensoren dar, mit deren Hilfe es möglich ist die echten Crashsensoren des Fahrzeugs zu ersetzen. Das Testsystem ist dadurch in der Lage die vollständige Se ...; Erstellt am 25. August 2015
19. Emulation elektrischer Energie-Versorgungsnetze: (Allgemein); Emulation elektrischer Energie-Versorgungsnetze 16 Juni 2015 - HEIDEN bietet mit dem neuen System HGE15 nicht nur die Möglichkeit einer drei-phasen Netz-Simulation, sondern zusätzlich die Fähigkeit sä ...; Erstellt am 15. Juni 2015
20. Test und Programmierung von Freescale Kinetis Prozessoren: (Baugruppen); Test und Programmierung von Freescale Kinetis Prozessoren 07. Mai 2015 - GÖPEL electronic hat seine VarioTAP Prozessor-Emulationstechnologie auf die Kinetis L-Serie von Freescale erweitert. Über den S ...; Erstellt am 07. Mai 2015
21. 100G Impairment-Generator für High-Speed-Ethernet: (Baugruppen); ... –Netzen vorgestellt. Der Impairment-Generator ermöglicht Equipment-Herstellern und Service-Providern die Emulation von Netzwerken oder Netzwerkelementen mit höchster Präzision und Wiederholbarkeit. Die i ...; Erstellt am 24. April 2015
22. Test und Debugging hochkomplexer heterogener Multicore-SoCs: (Baugruppen); ... er AURIX-Familie von Infineon (TC29x, TC27x, TC26x, TC23x, TC22x inklusive Emulation Devices), der Qorivva-Bausteine MPC57xx von Freescale (MPC5746M, MPC5777M, MPC5748G, MPC5746C, MPC77xK und MPC574xP) ...; Erstellt am 19. Januar 2015
23. Test- und Programmierstrategien für Bay Trail Prozessoren von Intel: (Baugruppen); ... lche Bestandteil der Intel Atom Familie sind, entwickelt. Die als VarioTAP-Modelle bezeichneten Bibliotheken ermöglichen die flexible Ausführung von Prozessor-Emulationstest unter Nutzung des nativen Deb ...; Erstellt am 13. Januar 2015
24. Test und Programmierung von Texas Instruments MCUs: (Baugruppen); Test und Programmierung von Texas Instruments MCUs 31 Oktober 2014 - Universelle Prozessor-Emulation durch die VarioTAP-Technologie von GÖPEL electronic ist ab sofort auch für die Tiva C-Series von T ...; Erstellt am 31. Oktober 2014
25. Chip Embedded Instruments für Artix-7 FPGA-Serie von XILINX: (Baugruppen); ... n oder Processor Emulation problemlos auf einer Plattform möglich. Applikationseinstellungen für die Inhalte (einschließlich der Verbindung zwischen IP und Pin) erfolgen automatisch und ohne FPGA-Synt ...; Erstellt am 03. Oktober 2014
26. Test- und Debug-Tools für aktuelle Multicore-SoCs: (Baugruppen); ... e eignet. Die normalerweise auf Registerebene nur mühsam programmierbare SPU kann mit dem zur UDE optional erhältlichen Universal Emulation Configurator (UEC) von PLS sehr einfach für verschiedene Messauf ...; Erstellt am 11. September 2014
27. Emulationstechnik für TMS570LSxx-Prozessoren von Texas Instrument: (Baugruppen); Emulationstechnik für TMS570LSxx-Prozessoren von Texas Instrument 05. August 2014 - GÖPEL electronic erweitert die VarioTAP-Technologie zur universellen Prozessor-Emulation nun auch für die TMS570LSxx-Familie de ...; Erstellt am 05. August 2014
28. Neue Arbiträr-/Funktionsgeneratoren mit umfassenden Wobbel- und Modulationsmöglichkeiten: (Allgemein); ... ischen Schaltungen und zur Emulation von Stromversorgungsschaltungen. Da die Parameter dieser anwendungsspezifischen Signale ebenso wie die von grundlegenden Signalen verändert werden können, lassen sich S ...; Erstellt am 28. Juli 2014
29. Programmierung und Test nichtflüchtiger Speicher in der Fertigung über Boundary Scan: (Baugruppen); ... ststrategien wie Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments oder Funktionstest kombiniert werden. Eine signifikante Verbesserung stellen die neuen Features des FID-Moduls (Fixture Ident ...; Erstellt am 23. Mai 2014
30. Boundary Scan Technologie für In-Circuit-Tester von Digitaltest: (Baugruppen); ... omplexe Baugruppen. Die Architektur des Moduls unterstützt sämtliche modernen Technologien zum Embedded System Access (ESA) wie Boundary Scan, Prozessor Emulation und Chip Embedded Instruments. Unterst ...; Erstellt am 20. Mai 2014
31. Embedded Test von differentiellen Takt-Signalen: (Baugruppen); ... n Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. ESA Technologien sind die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debugging, sowie zur Programmierung komplexer Boards u ...; Erstellt am 16. April 2014
32. Prozessor-Emulation in Kombination mit Boundary Scan: (Baugruppen); Prozessor-Emulation in Kombination mit Boundary Scan 05. März 2014 - GÖPEL electronic hat unter dem Namen TIC122 weitere TAP Interface Card (TIC) für die modulare Boundary-Scan-Hardwareplattform SC ...; Erstellt am 05. März 2014
33. Vektor-Signal-Transceiver mit 200 MHz testet aktuelle Wireless-Standards: (Allgemein); ... rschiedenster Anwendungen. Beispiele hierfür sind Kanalemulation, Prototypingsysteme für Funkanwendungen oder benutzerspezifische Echtzeit-Signalverarbeitung im Bereich Spektralanalyse. Der Vektorsignal-Transceiver von ...; Erstellt am 03. März 2014
34. Multicore-Debugging bei tief eingebetteten Systemen: (Baugruppen); ... isse. Eine noch effizientere Nutzung der von Infineon, Freescale und STMicroelectronics für einige SoCs angebotenen sogenannten Emulation Devices ermöglicht eine Erweiterung des bewährten Universal E ...; Erstellt am 06. Februar 2014
35. Neues Modul-Kit zum parallelen Testen und Programmieren für Gang-Applikationen: (Baugruppen); ... se Umgebungen und unterschiedlichste Test- und Programmier-Anwendungen wie Flash Programmierung, MCU-Programmierung oder dynamische Tests per Processor Emulation angepasst werden. „Hoher Durchsatz und opt ...; Erstellt am 05. Februar 2014
36. Entwicklungs-, Test und Debug-Umgebung für MPC57xx- und SPC57x-Mikrocontroller: (Baugruppen); Entwicklungs-, Test und Debug-Umgebung für MPC57xx- und SPC57x-Mikrocontroller 20. Dezember 2013 - Ab sofort steht der Universal Emulation Configurator (UEC) von PLS Programmierbare Logik & System nun ...; Erstellt am 20. Dezember 2013
37. 12-Bit Mixed-Signal Oszilloskope mit 16 digitalen Kanälen: (Allgemein); ... ttet. Analoge und digitale Mustertrigger, übergreifende Zeit-Messungen auf digitalen und analogen Kanälen, parallele Mustersuche, Logic Gate Emulation und eine Aktivitätsanzeige der digitalen Eingänge sind id ...; Erstellt am 15. November 2013
38. Integrierte Plattform für Soft- und Hardware-Validierung und Test: (Baugruppen); ... ion Test, FPGA Assisted Test und In-System Programmierung von Flash und PLD. „Das neue iTIC ist ein ganz wichtiger Meilenstein in der ganzheitlichen Umsetzung unserer Philosophie des Embedded System Acces ...; Erstellt am 20. September 2013
39. Flexible Lösungen für HIL-Tests von Elektromotoren: (Baugruppen); ... n Hilfsaggregaten in Bordnetzen von bis zu 48 Volt. Durch Parallelisierung der elektronischen Last lässt sich die verfügbare Stromstärke unkompliziert vervielfachen. Das Electronic Load Module arbeitet mi ...; Erstellt am 19. September 2013
40. Embedded Test und Validierung für Haswell Prozessoren von Intel: (Baugruppen); ... tion Test, Chip Embedded Instruments, Core Assisted Programming und FPGA Assisted Test. „Unsere Systemlösungen ermöglichen bereits seit über einem Jahrzehnt die Nutzung der Boundary Scan-/IEEE1149.x- ...; Erstellt am 20. August 2013
41. Boundary-Scan-Komplettpaket für komplexe Projekte in Entwicklung und Produktion: (Baugruppen); ... rierter Testelektronik. Zu den ESA-Technologien gehören auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming. Sie bilden die derzeit m ...; Erstellt am 23. Juli 2013
42. GÖPEL electronic öffnet Embedded System Access Plattform für 3rd-Party-Tools: (Baugruppen); ... ispielsweise JTAG. Zu den ESA Technologien gehören neben Boundary Scan, auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, FPGA Assisted Test, FPGA Assisted Programming, In-System Program ...; Erstellt am 08. Mai 2013
43. Boundary Scan Days 2013 mit Schwerpunkt Embedded System Access: (Baugruppen); ... iegt in diesem Jahr auf den Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen sowohl JTAG/Boundary Scan als auch neuartige Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System ...; Erstellt am 03. Mai 2013
44. Desktop-Tester für Embedded System Access: (Baugruppen); ... ry-Scan-Verfahren auch Strategien wie Prozessor-Emulation auf Basis VarioTAP oder Chip Embedded Instruments auf Basis der ChipVORX-Technologie. Neuerungen gibt es auch im Bereich der System-Optionen: So si ...; Erstellt am 26. April 2013
45. Kostengünstige Boundary-Scan-Werkzeuge: (Baugruppen); ... ug-Modi von Prozessorkernen ermöglichen einen kostengünstigen Zugang zu Testverfahren, die verschiedentlich unter den Bezeichnungen „Processor Controlled Test“ und „JTAG Emulation Test“ bekannt sind. ...; Erstellt am 28. Februar 2013
46. Kostengünstiges Boundary-Scan-Einstiegspaket: (Baugruppen); ... en auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming. Sie bilden die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debuggin ...; Erstellt am 19. Februar 2013
47. Gang-Tester ermöglicht deutliche Steigerung des Produktionsdurchsatzes: (Baugruppen); ... unserer SCANFLEX-Hardware-Produktgruppe sichern wir außerdem den Einsatz von dynamischen Tests auf der Basis von Prozessor-Emulation in der Fertigungslinie oder bei Stresstests in Klimakammern ab“, freut ...; Erstellt am 14. Februar 2013
48. Bit Error Rate Test (BERT) mit Embedded Instruments: (Baugruppen); ... Technologien, zu denen auch Verfahren wie Boundary Scan, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. ESA Technologien sind die derzeit modernsten Strategien z ...; Erstellt am 28. Januar 2013
49. Kombination von Inline-Programmiersystem und Embedded Test: (Baugruppen); ... LEX-Architektur mit Short Wire Interface für bis zu 32 Sites ist es nun möglich, Programmieraufgaben mit Teststrategien wie Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments oder Funktionstest zu kom ...; Erstellt am 08. Januar 2013
50. Universelle Kontaktierungslösung für Baugruppentest über JTAG-Bus: (Baugruppen); ... JTAG-Bus, die Spannungsversorgung und eventuell benötigte Zusatzsignale. Somit ist es möglich, sowohl elektrische Tests (Boundary-Scan-Test, Software-Emulation via VarioTAP) als auch beliebige Program ...; Erstellt am 18. Dezember 2012

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