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1.
Advantest präsentiert neue Generation von SoC-Testsystemen
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(Bauteile)
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Advantest präsentiert neue Generation von SoC-Testsystemen
12. Oktober 2020 - Advantest hat seine V93000 Tester der nächsten Generation für den Test fortschrittlicher Digital-ICs bis zur Exascale-Leistungsklasse ...
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Erstellt am 12. Oktober 2020
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2.
Advantest und PDF Solutions entwickeln Cloud-basierte Datenanalyselösung
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(Bauteile)
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Advantest und PDF Solutions entwickeln Cloud-basierte Datenanalyselösung
02. September 2020 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, und PDF Solutions, ein Anbieter von softwarebasierten ...
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Erstellt am 02. September 2020
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3.
Online-Portal von Advantest bietet Zugang zu Produkten und Dienstleistungen
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(Bauteile)
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Online-Portal von Advantest bietet Zugang zu Produkten und Dienstleistungen
03. August 2020 - Advantest hat ein neues Online-Portal eingeführt, mit dem Kunden direkt Bestellungen aufgeben und die sofortige ...
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Erstellt am 03. August 2020
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4.
Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest
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(Bauteile)
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Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest
08. Januar 2019 – Advantest Corporation hat die Übernahme des Halbleiter System Level Test Geschäfts von Astronics Corporatio ...
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Erstellt am 08. Januar 2019
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5.
Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen
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(Bauteile)
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Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen
23. Mai 2017 – Advantest Europe GmbH und Nash Technologies GmbH geben eine strategische Zusammenarbeit bei der Entwicklung ...
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Erstellt am 19. Mai 2017
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6.
bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest
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(Bauteile)
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bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest
08. Juli 2016 - Advantest und die die bsw TestSystems & Consulting mit Sitz in Sindelfingen haben eine Vertriebskooperation für das ...
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Erstellt am 07. Juli 2016
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7.
Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform
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(Bauteile)
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Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform
06. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 Enhanced Device Power Supply 150A (DPS150AE) Modul vorgestellt. Mit diesem kann die T2000-Testplattform ...
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Erstellt am 06. August 2014
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8.
Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen
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(Bauteile)
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Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen
20. Juni 2014 - Advantest wurde bei der jährlichen Kundenzufriedenheitsanalyse von VLSIresearch zum 26. Mal in Folge in die 10 BEST ...
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Erstellt am 20. Juni 2014
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9.
Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor
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(Bauteile)
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Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor
08. Oktober 2013 - Advantest Europe, meldet, dass das Unternehmen der europäische Kooperationspartner von CloudTestingTM Service ...
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Erstellt am 08. Oktober 2013
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10.
Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor
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(Bauteile)
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Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor
04. Juli 2013 - Advantest stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) ...
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Erstellt am 04. Juli 2013
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11.
Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit
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(Bauteile)
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Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit
01. Juli 2013 - Advantest gehört laut einer Kundenbefragung durch VLSIresearch erneut zu den weltweit 10 BEST Suppliers in ...
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Erstellt am 01. Juli 2013
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12.
Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI
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(Bauteile)
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Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI
24. Mai 2013 - Advantest und das US-amerikanische Unternehmen w2bi.com haben die Übernahme von W2BI durch Advantest ...
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Erstellt am 24. Mai 2013
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13.
Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein
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(Bauteile)
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Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein
17. April 2013 - Advantest ist in den schnell wachsenden Tester-Markt für MEMS-basierte Sensoren (Mikro-elektromechanische Systeme) eingestiegen. An ...
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Erstellt am 17. April 2013
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14.
Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service
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(Bauteile)
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Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service
10. Oktober 2012 – Advantest hat eine neue Tochtergesellschaft für den Vertrieb seines CloudTesting Service gegründet hat, die ...
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Erstellt am 10. Oktober 2012
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15.
Advantest liefert 500. V93000 Port Scale RF-Tester aus
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(Kurznachrichten)
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13. August 2012 – Advantest hat das 500ste V93000 Port Scale RF-Testsystem installiert. Das System geht in das Entwicklungslabor von Spreadtrum Communications (Shanghai), Co., Ltd., einem Fabless-Halbleiterunternehmen, ...
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Erstellt am 13. August 2012
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16.
Advantest startet im Herbst CloudTesting Service
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(Bauteile)
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Advantest startet im Herbst CloudTesting Service
04. Juli 2012 – Advantest wird im Herbst 2012 eine neue Testlösung namens CloudTesting Service (CTS) vorstellen, welche auf der Basis der Cloud-Computing-Technologie ...
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Erstellt am 04. Juli 2012
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17.
Advantest liefert innerhalb der ersten 10 Monate bereits hundertstes V93000 Smart Scale System aus
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(Kurznachrichten)
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26. Juni 2012 – Nur zehn Monate nach der Vorstellung der neuen Smart Scale Tester-Generation hat die Advantest Corporation bereits das hundertste V93000 Smart Scale System ausgeliefert. Die Systeme dieser ...
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Erstellt am 26. Juni 2012
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18.
Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an
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(Bauteile)
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Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an
12. Juni 2012 – Advantest Corporation entwickelt eine neue Produktlinie von vollautomatischen und integrierten Test- und Handling-Lösungen für TSV-basierte ...
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Erstellt am 12. Juni 2012
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19.
Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit
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(Bauteile)
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Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit
25. Mai 2012 – Advantest wurde bei der jährlichen Customer Satisfaction Survey des unabhängigen Marktforschers VLSI Research von den Kunden ...
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Erstellt am 25. Mai 2012
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20.
Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab
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(Bauteile)
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Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab
04. April 2012 – Advantest Corporation meldet den erfolgreichen Abschluss der Integration der im Juli 2011 übernommen Firma Verigy Ltd. Inzwischen ...
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Erstellt am 04. April 2012
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21.
Advantest installiert tausendstes T2000 Testsystem
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(Kurznachrichten)
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22. Dezember 2011 - Advantest hat bei einem Hersteller von integrierten Halbleiterprodukten für die Computer- und Kommunikationstechnik das tausendste T2000 Testsystem installiert. Das System wird wie ...
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Erstellt am 22. Dezember 2011
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22.
Verigy Aktionäre stimmen für Übernahme durch Advantest
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(Kurznachrichten)
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21. Juni 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. melden, dass die Aktionäre von Verigy der geplanten Übernahme von Verigy durch Advantest zugestimmt haben. Advantest wird somit alle ausgegebenen ...
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Erstellt am 21. Juni 2011
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23.
Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen
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(Bauteile)
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Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen
30. März 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. haben eine Übernahme-Vereinbarung geschlossen, nach der Advantest seinen Mitbewerber Verig ...
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Erstellt am 30. März 2011
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24.
Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000
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(Bauteile)
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Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000
08. Dezember 2010 - Advantest hat drei neue Module und die Infrastruktur-Erweiterung Enhanced Performance Package (EPP) für die SOC-Testplattform T2000 vorgestellt. ...
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Erstellt am 08. Dezember 2010
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25.
Advantest will Verigy übernehmen
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(Kurznachrichten)
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08. Dezember 2010 - Verigy, ein amerikanischer Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat bekanntgegeben, dass das Unternehmen ein Übernahmeangebot des Mitbewerbers Advantest erhalten hat. Erst im November ...
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Erstellt am 08. Dezember 2010
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26.
Advantest zum 22. Mal in Folge unter den 10 BEST
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(Kurznachrichten)
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25. Mai 2010 - Advantest hat es in der jährlichen Kundenzufriedenheitsstudie von VLSI Research zum 22. Mal in Folge unter die 10 BEST geschafft. Das Unternehmen erreichte im Bereich Chip-Fertigungsanlagen ...
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Erstellt am 25. Mai 2010
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27.
Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken
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(Bauteile)
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Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken
08. Januar 2010 - Advantest Europe GmbH stellt mit dem E3610/E3620 ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken vor. ...
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Erstellt am 08. Januar 2010
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28.
Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte
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(Allgemein)
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Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte
25. September 2009 - Advantest Corporation hat ein Terahertz (THz = 1012 Hz) Imaging System entwickelt und adressiert den Markt für zerstörungsfreie ...
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Erstellt am 25. September 2009
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29.
Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem T5503 vor
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(Bauteile)
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Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor
3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen ...
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Erstellt am 03. Juni 2009
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30.
Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern
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(Bauteile)
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Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern
28. Mai 2009 - Advantest Corporation gehört laut der in jedem Jahr vom Marktforschungsunternehmen VLSI Research Inc. durchgeführten ...
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Erstellt am 29. Mai 2009
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31.
Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest
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(Bauteile)
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Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest
08. Mai 2009 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleitertestsystemen und ELMOS Semiconductor AG, ein Anbieter von Automotive-Halbleitern, ...
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Erstellt am 08. Mai 2009
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32.
Advantest stellt neues Memory Test System vor
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(Bauteile)
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Advantest stellt neues Memory Test System vor
20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und ...
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Erstellt am 23. November 2008
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33.
Vier-Quadranten-Spannungs-Strom-Modul für Halbleiter-Produktionstest
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(Allgemein)
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Vier-Quadranten-Spannungs-Strom-Modul für Halbleiter-Produktionstest
05. Februar 2021 - Advantest hat ein neuartiges DC Scale XPS256 DPS Instrument vorgestellt, das nun bei führenden Herstellern von ...
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Erstellt am 05. Februar 2021
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34.
Cloud-basierte Daten- und Analyse-Plattform für die Halbleiterindustrie
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(Bauteile)
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Cloud-basierte Daten- und Analyse-Plattform für die Halbleiterindustrie
26. Januar 2021 - Advantest hat in Zusammenarbeit mit seinem Partner PDF Solutions zwei neue, innovative Cloud-basierte Softwarelösungen ...
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Erstellt am 26. Januar 2021
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35.
Automatisierte Testzelle für IC-Tests
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(Bauteile)
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Automatisierte Testzelle für IC-Tests
17. Dezember 2020 – Advantest und der Halbleiterhersteller STMicroelectronics haben gemeinsam eine vollautomatische integrierte Testzelle für den Final-Test von ...
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Erstellt am 17. Dezember 2020
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36.
Speichertester mit integrierter Burn-In-Testfunktion
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(Bauteile)
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Speichertester mit integrierter Burn-In-Testfunktion
21. Juli 2020 – Advantest hat seine H5600-Speichertester-Familie um das vielseitige Testsystem H5620ES erweitert. Das Testsystem ist sowohl für Burn-in ...
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Erstellt am 21. Juli 2020
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37.
Test von Wi-Fi 6E und anderen Konnektivitäts-ICs bis zu 8 GHz
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(Bauteile)
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Test von Wi-Fi 6E und anderen Konnektivitäts-ICs bis zu 8 GHz
27. Mai 2020 – Advantest hat die neueste Generation seiner Wave Scale RF-Kanalkarten für die V93000-Plattform vorgestellt. Dadurch wird ...
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Erstellt am 27. Mai 2020
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38.
productronica 2019: Die wichtigsten Neuheiten im Überblick (Update)
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(Allgemein)
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...
Beidseitiger Flying Prober
Seica
A1.445
Halbleitertest
- Neuer Test Head und weitere Testmodule für Test von Automotive-SoCs - V93000 Wave Scale Millimeter Test Solution
Advantest ...
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Erstellt am 07. November 2019
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39.
Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität
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(Bauteile)
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Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität
04. November 2019 – Advantest hat seine T2000 Plattform um zwei neue Module und einen Test Head erweitert, die speziell für die Prüfung von Bauteilen ...
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Erstellt am 04. November 2019
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40.
Thermische Validierung von SSDs gemäß Automotive Standards
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(Baugruppen)
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Thermische Validierung von SSDs gemäß Automotive Standards
12. August 2019 – Advantest hat das MPT3000ARC-System, das jüngste Mitglied seiner MPT3000-Produktfamilie, vorgestellt, das zum Testen und ...
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Erstellt am 12. August 2019
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41.
Hochgeschwindigkeits-I/O Testmodule für PAM4
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(Bauteile)
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Hochgeschwindigkeits-I/O Testmodule für PAM4
04. Juli 2019 – Advantest hat mit MultiLane Module entwickelt, welche die Funktionalität der V93000-Plattform für den kostengünstigen Test von digitalen ...
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Erstellt am 04. Juli 2019
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42.
Software verbindet EDA-Umgebung direkt mit Halbleitertester
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(Bauteile)
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Software verbindet EDA-Umgebung direkt mit Halbleitertester
31. Mai 2019 – Advantest Corporation hat die Funktionalität seiner V93000 SmarTest-Software um SmartShell erweitert. Bei SmartShell handelt ...
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Erstellt am 31. Mai 2019
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43.
Multi-Site-Testlösung für Millimeterwellen-Bauteile bis 70 GHz
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(Bauteile)
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Multi-Site-Testlösung für Millimeterwellen-Bauteile bis 70 GHz
20. Mai 2019 - Advantest hat eine Erweiterung für sein V93000-System vorgestellt, die einen Test von 5G-NR-Hochfrequenzbauteilen und ...
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Erstellt am 20. Mai 2019
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44.
Test von hochauflösenden Audio-ICs
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(Bauteile)
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Test von hochauflösenden Audio-ICs
09. Mai 2019 – Advantest Corporation stellt das hochauflösende GPWGD-Modul mit dem leistungsstarken Analog-Digitizer vor. Das Modul unterstützt die Prüfung von ...
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Erstellt am 09. Mai 2019
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45.
Modularer drahtloser Daten-Logger für Messanwendungen
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(Allgemein)
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Modularer drahtloser Daten-Logger für Messanwendungen
11. März 2019 – Advantest bietet seine drahtlosen Data Logger der AirLogger WM2000 Serie ab Februar auch in den USA, der EU und Thailand an. Die ...
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Erstellt am 11. März 2019
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46.
Test von Hochspannungs-ICs
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(Bauteile)
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Test von Hochspannungs-ICs
14. Dezember 2018 – Advantest hat ein neues Modul für sein EVA100 Messsystem eingeführt, welches Prüfungen von Hochspannung-ICs für volumenstarke Verbraucheranwendungen ...
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Erstellt am 14. Dezember 2018
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47.
Konvertierungssoftware für Halbleiter-Testpattern
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(Bauteile)
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... und Advantest CloudTesting ServiceTM (CTS), Entwickler des ersten On-Demand Testservices für die Halbleiterindustrie, kündigen ein neues Softwaremodul zur Konvertierung von EDA Formaten (Electronic Design ...
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Erstellt am 05. Dezember 2018
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48.
Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs
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(Bauteile)
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Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs
13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die ...
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Erstellt am 13. November 2018
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49.
electronica 2018: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick (2)
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(Allgemein)
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... electronic
Federkontakt mit Thermoelement
A3.607
XJTAG
Neue JTAG-Programmiersoftware v3.8
A3.470
Bauteiltest
Unternehmen
Neuheit
Stand
Advantest
FVI 16 Floating ...
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Erstellt am 12. November 2018
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50.
Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher
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(Bauteile)
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Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher
02. November 2018 – Advantest Corporation hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern auf den Markt gebracht. Die neuen Modelle ...
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Erstellt am 02. November 2018
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