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Bauteil-/Halbleiter-Test

Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs

Advantest EVA10010. März 2017 – Advantest erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EVA100 Messplattform zum Test von sehr schnellen und hochauflösenden Analog-Bauteilen. Mit dem neuen Modul kann das EVA100 System alle wichtigen Parameter von Mixed-Signal-, Präzisions- und standardmäßigen Analog-Halbleitern messen, die in wachstumsstarken Anwendungen, wie beispielsweise On-Board-Automobilelektronik, zum Einsatz kommen.

Das HF-AWGD Modul enthält einen zweikanaligen High-Speed-Arbiträr-Signalgenerator und einen Digitizer. Es ist somit ein leistungsstarkes Analyse-Tool für Präzisionsbauteile, wie 16-Bit-ADCs und Operationsverstärker. Das Modul nutzt eine intuitive Software und ein High-Speed-Sampling. Damit werden Signale im AWG-Modus (auf der Basis eines Wave Pattern File) oder im Pattern-Generator-Modus (ohne ein Wave Pattern File) erzeugt. Der extrem niedrige Klirrfaktor des AWG-Systems von -102 dB gewährleistet höchste Präzision. Außerdem kann der große Signalspeicher lange Signale erfassen, während der eingebaute Digitizer einen großen Eingangsbereich mit hoher Analog-Bandbreite abdeckt. Das Modul ist somit ideal für Präzisions- und High-Speed-Wandler sowie drahtlose Basisband-Bauteile geeignet.

"Unser neues HF-AWGD Modul erweitert den Einsatzbereich unseres bewährten EVA100 Messsystems, das durch seinen einfachen Aufbau, rasches Debugging und schnelle Verifikation kürzere Produkteinführungen ermöglicht", sagt Satoru Nagumo, Managing Executive Officer der Advantest Corporation. "Durch das integrierte Design und die hohe Leistungsfähigkeit eignet sich das System hervorragend intelligente Bauteile zu testen, welche analoge und digitale Funktionen auf einem einzigen IC kombinieren. Eine hohe Nachfrage dieser Bauteiltypen ist bei Anwendungen aus den Bereichen Sensoren, Mobilkommunikation und Leistungsmanagement zu verzeichnen."

Das Advantest EVA100 System nutzt dieselben Testsequenzen für Messungen in der Entwicklung und in der Produktion, so dass der Anwender eine standardisierte Messumgebung im gesamten Unternehmen zur Verfügung hat. Das ermöglicht eine deutlich kürzere Time-to-Market. Die Halbleiter-Hersteller müssen somit keine Zeit und Ressourcen aufwenden, um Testdaten von verschiedenen Systemen zu korrelieren. Das EVA100 verfügt über eine intuitive Bedienoberfläche (GUI), so dass keine komplizierte Programmiersprache erforderlich ist.

Das HF-AWGD Modul ist bereits bei mehreren Kunden im Einsatz, um Lichtsensoren, Datenwandler und andere Bauteile zu messen.

www.advantest.de/



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