News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Testsystem für Analog-, Mixed-Signal- und Sensor-ICs

03. Juni 2014 - Advantest hat sein neues Messsystem EVA100 vorgestellt. Diese evolutionäre Plattform kombiniert digitale und analoge Testfunktionen und eignet sich für den Test von Analog-, Mixed-Signal- und Sensor-Halbleitern mit wenigen Pins. Die erweiterbare Architektur des EVA100 bietet eine hohe Flexibilität in der Ausführung unterschiedlichster Messfunktionen. Die Bedienung ist rein intuitiv, so dass der Anwender keine fundierten Programmierkenntnisse benötigt und somit neue ICs schneller auf den Markt bringen kann.

Das EVA100 System wurde speziell für einen Einsatz in der Entwicklung und der Serienproduktion entwickelt und erlaubt eine simultane Steuerung von mehreren Testfunktionen, so dass hoch genaue Messungen ausgeführt und eine hohe Testeffizienz erreicht wird. Durch die Integration von analogen Spannungs- und Strom-Quellen-/ Messfunktionen, einem achtkanaligen 100 Mbps Pattern-Generator und einem Oszilloskop in einem kompakten System mit geringem Gewicht erfordert das EVA100 keine komplizierte Verkabelung, um die verschiedenen Instrumente zu verbinden und zu koordinieren.

"Analog- und Mixed-Signal-ICs sind entscheidend, um die immer höhere Leistung, Genauigkeit und Zuverlässigkeit der heutigen intelligenten Elektronik zu ermöglichen", sagt Satoru Nagumo, Executive Officer der Advantest Corporation. "Mit unserer neuen monolithischen Testlösung lassen sich die hohen Kosten, Komplexität und die langen Vorlaufzeiten vermeiden, wenn verschiedene Messinstrumente für einen Test derartiger Bauteile benötigt werden."

www.advantest.de/

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