News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Innovative High-Speed-Scan und Software-basierte Funktionstests

30. Juni 2021 - Advantest testet in einem Pilotprojekt auf der V93000 Plattform eine neuartige innovative Methodik. Der Lösungsansatz nutzt die vorhandenen seriellen Hochgeschwindigkeits-I/O-Schnittstellen auf modernen integrierten Schaltungen (ICs) zur Durchführung von Scan-Tests und softwaregesteuerten Funktionstests von Halbleitern. Damit korrelieren Scan-Testergebnisse zwischen etablierten und neuen Testroutinen. Die On-Chip-Testsoftware wird gebootet und ausgeführt. Ein nahtloser Datenfluss von Ende zu Ende wird in Verbindung mit Advantest‘ s Partnerfirmen in der elektronischen Designautomatisierung (EDA) gewährleistet.

Die Funktionen werden auf einer neuen, modularen Kartenarchitektur entwickelt, die voraussichtlich im nächsten Jahr verfügbar sein wird. Die V93000 Plattform wird die zunehmende Menge an Scan-Testdaten, die sich aus der steigenden Anzahl an Transistorgates in den heutigen hochintegrierten Halbleitern ergibt, schnell und kostengünstig verarbeiten. Die neuen Methoden werden die Durchführung von System-Level Funktionstests von komplexen Interaktionen zwischen zahlreichen Cores in System-on-Chip (SoC) Bauteilen mit einem externen Host ermöglichen, einschließlich deren Kommunikation. Dies wird die Testabdeckung erhöhen und die Korrelation zwischen automatisierten Testgeräten (ATE) und System-Level-Tests (SLT) erleichtern. Softwarebasierte Funktionstests werden durch diese Innovation problemlos in die Produktionsumgebung gebracht, sodass potenzielle Fehler während der Wafer-Sortprüfung und des Tests von verpackten Bauelementen früher erkannt werden können.

"Die zunehmende Komplexität der Designs geht an die Grenzen der verfügbaren Testbandbreite", sagt Amit Sanghani, Senior Vice President, Hardware Analytics and Test Group bei Synopsys.

„Synopsys und Advantest sahen den Bedarf an Hochgeschwindigkeitstest voraus und arbeiteten zusammen, um eine integrierte Testlösung auf den Markt zu bringen, die eine hohe Bandbreite abdeckt und funktional auf gemeinsame Schnittstellen zugreift. Sie bietet unseren Kunden kürzere Testzeiten bei höherer Testabdeckung und erlaubt zudem softwarebasierte Funktionstests. Mit diesem Lösungsansatz sind Synopsys und Advantest Vorreiter in der Branche"

"Die Zusammenarbeit mit Synopsys und anderen Unternehmen der EDA-Branche ermöglicht die Validierung hochkomplexer, neuer Bauteiledesigns in allen Phasen des Entwicklungs- und Herstellungsprozesses ", sagte Jürgen Serrer, Managing Executive Officer der Advantest V93000 Business Unit. "Damit können wir unseren Kunden mehr Optionen im Rahmen ihrer Gesamtteststrategie bieten, während wir die wachsenden globalen Märkte für digitale High-End-Produkte, wie Smartphone-Prozessoren, MPUs und KI-Chips adressieren."

www.synopsys.com/

www.advantest.com/

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