Neues Wafer-Testsystem mit paralleler Testkapazität von 768 Bauteilen

30. Juli 2009 - Advantest Europe GmbH stellt das neue Speichertestsystem T5385 für DRAM-Wafer vor, welches 768 Bauteile parallel testen kann. Dies ist die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität und doppelt so viel wie beim Vorgängermodell.

Im Wafer-Test werden permanent sowohl eine höhere Leistung, als auch niedrigere Testkosten gefordert. Das Modell T5385 von Advantest erfüllt diese Forderungen und verbessert durch eine höhere Parallelität die Testeffizienz. Darüber hinaus ermöglicht das System T5385 einen KGD-Test (Known Good Die) für Konsumelektronik mit bis zu 533 Mbps, wodurch sich bei den künftigen LPDDR2 (Low Power DDR2) und DDR3 Multi-Die- und Stacked-Bauteilen eine deutlich höhere Fertigungsausbeute erreichen lässt.

Der massiv parallele Test reduziert zudem die Anzahl der Touchdowns und senkt dadurch die Testkosten in hochvolumigen Wafer-Fabs. Das Testsystem verfügt außerdem über eine flexible Pin-Konfiguration, die unterschiedlichste DRAM-Bauteile unterstützt und eine optimale Nutzung der Pin-Ressourcen des Testers erlaubt.

Auf der Basis eines fortschrittlichen Hard- und Software-Konzepts verfügt das Testsystem T5385 über eine schnelle MRA-Funktion (Memory Repair Analyzer) für den Wafer-Test bei DRAM- und Flash-Speichern, mit der sich die Testzeit gegenüber dem Vorgängermodell um ca. 30% reduzieren lässt. Das Testsystem T5385 unterstützt außerdem den Wafer-Test von Flash-Speichern. Die proprietäre Tester-per-Site Architektur wurde speziell für Flash-Speicher optimiert und ermöglicht eine weitere Reduzierung der Testzeiten.

Für den Einsatz in der Entwicklung bietet die kleinere T5385ES (Engineering Station) den vollen Funktions- und Leistungsumfang des T5385. Dieses System ermöglicht einfache Evaluierung und Charakterisierung von Bausteinen. Zudem können alle auf dem T5385ES entwickelten Testprogramme problemlos auf das System T5385 übertragen werden. Dies trägt dazu bei, dass sich der DRAM-Entwicklungsprozess beschleunigen lässt.